O DXLV-03 é um vibrômetro laser Doppler por fibra, sem contato, para medição de deslocamento e velocidade de vibração em alta resolução, destinado a ensaios de pesquisa e aplicações de engenharia.
Principais características:- Medição sem contato com alta resolução espacial e de deslocamento
- Design compacto e integrado por fibra com forte imunidade a interferências
- Não é afetado por luz ambiente ou cor da amostra
- Transmissão/recepção coaxial sem zonas cegas de medição
- Taxa de amostragem do sensor até 5 MHz
- Imunidade a condições de luz anormais > 60.000 lux
Casos de aplicação:- Vibrômetro laser + câmara de ensaio com bloco de temperatura variável
- Curso ajustável do eletrodo ≥ 3 mm, resolução 0,01 mm
- Tamanho da amostra < 30 mm
- Tensão de ensaio da câmara ≥ 10 kV
- Faixa de aquecimento: ambiente até 250℃
- Controlador de temperatura de marca importada
- Proteções contra sobretensão térmica e sobrecorrente
- Vibrômetro laser + câmara de ensaio de alta temperatura
- Curso ajustável do eletrodo ≥ 3 mm, resolução 0,01 mm
- Tamanho da amostra < 30 mm
- Tensão de ensaio da câmara ≥ 10 kV
- Faixa de aquecimento: ambiente até 800℃
- Controlador de temperatura de marca importada
- Proteções contra sobretensão térmica e sobrecorrente
- Vibrômetro laser + dispositivo de ensaio de alta/baixa temperatura
- Adequado para medição de deformação e vibração de dispositivos e materiais maciços
- Tamanho da amostra < 40 mm
- Tensão de ensaio da câmara ≥ 2 kV
- Faixa aquecimento/resfriamento: -196℃ a 250℃
- Controlador de temperatura de marca importada
- Proteções contra sobretensão térmica e sobrecorrente
- Vibrômetro laser + dispositivo de ensaio para viga em balanço de filme fino
- Utilizado com testes piezoelétricos de filme fino (E31) para medir coeficientes piezoelétricos (E31, D31, D33, E33) e deslocamento de espessura vs tensão
- Medição em alta velocidade do deslocamento por flexão cantilever-substrato sob tensão aplicada
Especificações técnicas:- Modelo: DXLV-03 (Vibrômetro laser Doppler por fibra)
- Tecnologia de chip optoeletrônico integrado
- Taxa de amostragem do sensor: 5 MHz
- Resolução de deslocamento: 0,01 nm
- Comprimento de onda do laser de medição: 1310 nm
- Faixa de frequência de medição: DC a 2,5 MHz
- Precisão de frequência de vibração: 0,02 %
- Faixa de velocidade de vibração: 4,5 m/s (padrão); versão alta velocidade até 20 m/s
- Saída analógica: ±5 V
- Software: interface de dados brutos e SDK para integração e desenvolvimento
- Alimentação: 12 V DC; consumo: 4 W
- Imunidade: tolera interferências luminosas anormais > 60.000 lux