Sistema de teste de resistividade DXHCR1100

de processopara semicondutorespara célula de combustível

Visão geral do produto
Os instrumentos Dexinmag medem a interação termoelétrica (efeitos Seebeck, Peltier, Thomson) adquirindo simultaneamente coeficiente de Seebeck e resistividade desde a temperatura ambiente (RT) até 1500°C. A força termoelétrica (coeficiente Seebeck) é expressa em V/K e varia com a temperatura. A plataforma DXHCR1100 suporta atmosferas controladas e geometrias de amostras flexíveis para P&D e controle de qualidade.

Áreas de aplicação

• Desenvolvimento de materiais termoelétricos: medição do coeficiente Seebeck e condutividade elétrica para semicondutores, skutteruditas e outros materiais TE; cálculo de ZT e avaliação em altas temperaturas até 1500°C ou sob atmosferas controladas (vácuo/redução/oxidação).
• Caracterização de materiais eletrônicos e funcionais: estudos de transporte elétrico em filmes finos semicondutores, polímeros condutores e óxidos metálicos; curvas resistência‑temperatura de supercondutores HT e compósitos cerâmicos.
• Materiais e dispositivos energéticos: análise de resistividade e características de contato/interface para eletrodos de baterias Li‑ion e eletrólitos sólidos; testes de condutividade de catalisadores para células a combustível em diferentes atmosferas.
• Controle industrial e otimização de processos: ensaios termoelétricos de ligas, cerâmicas e materiais carbonosos para orientar sinterização; avaliação de revestimentos de alta temperatura e materiais resistentes à corrosão.
• Pesquisa acadêmica e testes normalizados: plataforma adequada para universidades, institutos de pesquisa e testes de certificação segundo normas (ex.: ASTM E1225).

Funções de teste

• Software de medição inteligente integrado (Windows 10/11) para excitação automática, aquisição de dados, processamento em tempo real e exportação de resultados.
• Edição de templates e entrada mínima de parâmetros para fluxos de medição repetíveis.
• Aquisição e análise em tempo real, comparação de até 32 curvas, subtração e sobreposição de curvas.
• Ferramentas avançadas de análise: zoom de curvas, derivadas primeira/segunda, análise multi‑pico e suporte a métodos complementares (DSC, TG, TMA, DIL).
• Calibração multiponto de temperatura e rotinas de entalpia/fluxo térmico Cp; import/export ASCII e exportação para MS Excel.
• Sequenciamento de controle de sinal e suporte para experimentos de longa duração.

Vantagens do produto

• Amplitude de temperatura e atmosferas controladas: RT a 800/1100/1500°C (opções); compatível com atmosferas inertes, oxidantes, redutoras e vácuo.
• Alta precisão e modos de medição integrados: faixa Seebeck 1–2500 μV/K (precisão ±7%, repetibilidade ±3%); condutividade elétrica 0,01–2×10⁵ S/cm (precisão ±5–8%, reprodutibilidade ±3%). Métodos: DC estático para Seebeck, quatro sondas para resistividade.
• Manuseio flexível de amostras: suporta cilindros (φ6 mm × 23 mm), prismas (2–5 mm largura × 23 mm) e discos (10 / 12,7 / 25,4 mm); espaçamento de sondas ajustável 4/6/8 mm e fixação tipo sandwich.
• Estabilidade de longo prazo e operação em alta temperatura: fonte 0–1 A com saída estável; eletrodos em níquel (−100–500°C) ou platina (−100–1500°C); termopares K/S/C e controle em malha fechada.

Especificações do produto

• Modelo: DXHCR1100
• Intervalo de temperatura: RT a 800/1100/1500°C (configurável)
• Princípios de medição: Seebeck — DC estático; Resistividade — quatro sondas
• Atmosferas: inerte, oxidante, redutora, vácuo
• Porta‑amostra: fixação sandwich entre dois eletrodos
• Dimensões compatíveis: cilindro φ6×23 mm; prisma 2–5 mm × 23 mm; discos 10 / 12,7 / 25,4 mm
• Espaçamento de sondas ajustável: 4 / 6 / 8 mm
• Faixa Seebeck: 1–2500 μV/K (±7% precisão, ±3% repetibilidade)
• Faixa de condutividade elétrica: 0,01–2×10⁵ S/cm (±5–8% precisão, ±3% reprodutibilidade)
• Alimentação: 0–1 A (saída estável)
• Material dos eletrodos: Níquel (−100 a 500°C) / Platina (−100 a +1500°C)
• Termopares: tipos K / S / C

Especificações técnicas

• Modelo: DXHCR1100
• Opções de temperatura: RT–800/1100/1500°C
• Método Seebeck: DC estático
• Método resistividade: quatro sondas
• Atmosferas compatíveis: inerte, oxidante, redutora, vácuo
• Espaçamento de sondas: 4 / 6 / 8 mm
• Tipos de amostra: cilindros, prismas, discos (dimensões acima)