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Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... sr pode ser montado perto da amostra para análise elementar de alta resolução tanto no modo SEM como STEM. Caraterísticas do produto: - Combinação SEM-STEM com sinal SEM filtrado por ExB e deteção de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm
... de sonda até 200nA - Brilhante desempenho de imagem - sem necessidade de um campo de desaceleração na amostra - de 100V (opção de 10V) até 30kV de tensão de aceleração. É possível efetuar análises EDX e obter imagens ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm
... topo em trabalhos analíticos utilizando detectores específicos. Por exemplo, é possível adicionar detectores EDX sem janela para uma análise óptima de elementos leves. Estes podem ser utilizados com o SU8600 em toda a ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm
... , secções em série de micrótomo, etc.). Equipado, tal como o SU8700, com a ótica universal de electrões de alta resolução e sem campo da Hitachi (constituída por um emissor Schottky e um amplificador de feixe), o SU7000 possui também ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm
... sinal de luminescência, transmissão (STEM, em conjunto com um suporte de amostras especial) - Ótica de electrões moderna e sem campo, opcionalmente com emissor de campo Schottky ou com cátodos de tungsténio robustos, económicos e, graças ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 15 nm
... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 1 unit - 330 unit
Resolução espacial: 10 nm
... definição automática da posição de medição e
análise automática através do programa padrão de
análise de contaminantes, permitindo
análises fiáveis por utilizadores iniciantes e especialistas.
Além ...
Shimadzu France
... pré‑tratamento, aquisição e análise adaptados a estudos de MSI.
Recursos
- Análise
Shimadzu France
... O novo microscópio metalúrgico invertido MEC4 da UNITRON foi concebido para o exame e análise de amostras metalúrgicas e material preparado para as indústrias automóvel, aeroespacial, de dispositivos médicos e electrónica. ...
Unitron
... O Versamet 4 é um novo microscópio metalúrgico invertido concebido para suportar uma variedade de métodos de observação, incluindo brightfield, brightfield/darkfield, luz polarizada e DIC. Este microscópio versátil e ...
Unitron
... O EXAMET-5 é um novo microscópio industrial metalúrgico concebido para campos brilhantes, aplicações da ciência dos materiais, fabrico de metais, metalurgia, tecidos/tecidos, pastilhas, optoelectrónica, compósitos e microelectrónica. A ...
Unitron
Ampliação : 0 unit - 4 unit
... campo da Ciência Forense com a introdução do seu novo Microscópio da Série CFM. Com a assistência de organizações policiais, cientistas forenses e educadores no campo da ciência forense, o Microscópio da Série CFM da ...
Unitron
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