半導体制御装置

品質

CIMSのアドオン計測オプションは、半導体デバイスの検査機能をさらに強化するように設計されています。これらのオプションはCIMS装置と統合可能であり、お客様に新たなレベルの品質保証を提供します。 CIMSのアドオンオプションには、独自の2Dおよび3D計測機能が含まれており、通常の検査サイクル中に高度な測定を行うことが可能です。これにより、オフラインの専用計測システムが不要となり、品質保証（QA）のフィードバックサイクルを短縮できます。