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... 半導体産業チェーンの中流ウェハー製造企業や下流のパッケージング・テスト企業向けに、独自に開発した多チャンネル明視野・暗視野平行検出システムを採用し、半導体ウェハーや結晶粒の外観欠陥をグラフィックで検出する。 製品の利点 - 豊富なサイズバリエーション 本装置は、4～8インチのパターン付きウェハーに対応可能。 - 様々な欠陥を検出可能 スクラッチ、裏抜け、色差、クラック、スクラッチ、金属残渣、メタルロスなどの欠陥を検出 - 高精度分解能 ...
... 高生産性パターン付きウェハ広領域検査システム 8シリーズ パターン付きウェハ欠陥検査装置は、生産プロセスの問題を迅速に特定し、解決するために、非常に高いスループットで様々な種類の欠陥を検出します。8シリーズは、150mm、200mm、300mmのシリコン、SiC、GaN、ガラス、その他の基板を使用したチップ製造において、初期製品開発から量産まで、コスト効率の高い欠陥モニタリングを実現します。最新世代の8935検査装置は、新しい光学技術、DesignWise®およびFlexPoint™精密エリア検査技術を採用し、チップ不良の原因となる重要な欠陥を捕捉します。DefectWise® ...
KLA Corporation
... 概要
NikonのVOXLS 20シリーズは、最大225 kVの走査エネルギーに対応する、スペース効率に優れたコンパクトなX線/CTシステムです。計測用グレードの花崗岩ベースと剛性の高いスチールタワーを備え、限られた設置面積でも高精度で再現性のあるX線・CTデータを提供します。標準の両開きドアを通過するコンパクト設計です。
製品の主要コンセプト
- 設置スペースが限られる品質管理ラボや生産現場向けに設計された、コンパクトで省スペースなCTシステム。
- 最大225
Nikon Metrology
... 複雑な電気機械アセンブリのインライン検査用ターンキーソリューション。 INSPECT.assemblyソリューションは、Radiant Vision Systems ProMetric® Yシリーズ画像システム、明視野照明、プログラム可能な検査ソフトウェアを利用した完全一体型の検査ステーションで、複雑なアセンブリの微妙で低コントラストな欠陥を検出します。 このシステムは生産ラインに簡単に追加することができ、ライン上の検査員と同じ設置面積で、人間の検査員や従来のマシンビジョンシステムよりも高い精度と再現性でリアルタイム検査に対応します。このシステムは、欠陥、欠陥の種類、欠陥の傾向データを記録しながら、検査された部品をシリアル番号で追跡することができます。このシステムは、Radiantの新しい設定可能なINSPECTソフトウェアにパッケージされた幅広い検査ツールを使用して、様々なマシンビジョン検査を同時に、または順番に実行します。 ...
... CA20は、最高解像度で優れた2Dおよび3D画像を提供するように設計されており、ミクロンサイズの細部を最速で検査することができ、複雑な3D ICの市場投入までの時間を短縮することができます。 • 半導体産業向けに設計 • 数分のうちに、はんだバンプを3次元的に把握する非破壊技術 • 安定した検査ルーチンをサポートするために設計された、信頼性が高く正確な技術による再現性の高い結果 • Void Insightsによる自動空隙解析を含む効率的なソフトウェア支援レビュー • X線の影響を受けやすいコンポーネントを保護するDose ...
Comet Yxlon GmbH
... エスケープ エスケープ(機能的欠陥) = 0 エスケープ(非機能欠陥) < 0.5% オーバーキル オーバーキル(機能的欠陥) <1 オーバーキル(非機能欠陥) <3 経済効率 100%手作業による代替 技術的利点 交換時間90 モデル能力大型モデル＋小型モデル モデル ...
... X-Y-Z空間移動システムは、大きな試料や構造物をX線撮影するためのシステムです。このシステムでは、光源と検出器を平行に配置するロボットアームによって移動が制御されるため、大型の試料や構造物を希望の向きでX線撮影することが可能です。 主な特長 6自由度による正確な空間位置決め X線撮影プログラム（軌道）の設計 100ミクロンの分解能 ...
... 広くBGA、CSP、フリップチップ、LED、ヒューズ、ダイオード、PCB、半導体、電池産業、小型金属鋳造、電子コネクタモジュール、ケーブル、太陽光発電産業などに適用されます。 応用分野 SMT/PCBA 半導体 リチウム電池 LED 太陽光発電 ...
... ECHOGRAPH 1170 Basicは、モジュール式の超音波エレクトロニクスユニットで、4HU 10″モジュールラックに収納されています。モジュールラックにはマスターモジュールと最大3つの超音波モジュールを搭載できます。 各超音波モジュールには、TRまたはシングルエレメントプローブ用の、個別に独立して設定可能な4つのマルチプレックスチャンネルが含まれています。最大パルス繰り返し周波数8 kHzは、モジュール内の4つのチャンネルに任意に分配でき、その結果、平均最大パルス繰り返し周波数は2 kHzになります。 各モジュールの4チャンネルのうち1チャンネルが同時に測定を行うことができます。複数のモジュールを使用する場合は、チャンネルの並列動作も可能です。マスターモジュールは個々の超音波チャンネルからデータを受信し、設定し、クロックプログラムを制御します。 オプションのソフトウェアツールECHOVIEWにより、機能指向の評価が可能です（ルーチンテスト、ストリップチャート、Cスキャン）。 主な機能 - ...
... CIMSの最新世代AOIシステムPhoenix Ultimaは、IC基板の大量生産をサポートするように設計されています。ライン/スペース幅4µmまでスキャン可能です。 このシステムの最先端の光学技術Prisma™は、高解像度の画像取得を高速スキャンでサポートするために、最大限のコントラストでフレキシブルな照射範囲を提供するように設計されています。シャープな高解像度画像とカスタマイズ可能な検出アルゴリズムを組み合わせることで、最適化されたパフォーマンスが達成される。 最先端の画像取得と高度なソフトウェア機能を備えたPhoenix製品ファミリーは、可能な限り低い誤検出率で達成される卓越した検出で有名です。 Phoenix ...
... - 生産環境における欠陥検出、故障解析、非破壊検査のための高精細画像 - マイクロスケールでも。 - 最も困難なPCBアセンブリの可視化と結果の信頼性 - 同等のX線検査システムの数分の一のコストで最適な性能と操作性を実現 - パワフルで汎用性の高いソフトウェアが、あらゆる検査タスクの効率化を実現 - 強力な90kVシールドマイクロフォーカスX線管 - 4µm焦点スポット - 最大45°の斜め角度検査 - 6軸モーションコントロール - プログラム可能な自動検査シーケンス - 貴重な画像補正および処理ツール（平均化、コントラスト、露光、9倍フィルタ、擬似3Dなど） - ...
... iS6059 システムは電子部品の存在を素早く検査し、アセンブリの高さを正確に測定し、高い信頼性を持ってはんだ接合部を検査します。26%増の画素数、可変照明、同じ解像度でより大きな傾斜画像領域、さらに向上したデータ転送レートと25%増の記録速度、幅広いネットワークオプションにより、ライン統合のパフォーマンスを実現する強固な基盤を備えています。プロセスを大幅に改善し、一貫して返品の発生を防ぐことができます。長期的に生産コストを削減し、非常に要求の厳しい電子製品においても、高い品質を確保することが可能です。 • ...
Viscom AG
... 液晶、リジッドAMOLED、CGなどの外観検査装置MRD-3A00シリーズ。 バリチェックAOIの製品説明です。 業界をリードし、韓国や日本製の同等品と同等の技術レベルに到達；LCD、硬質AMOLED、CG、ガラスセンサーなど、切断・エッジング後の異なるサイズの製品の外観検査に満足。 ...
... インスペックスOUT 製品の組立、側面、表面仕上げの高スループット・高精度検査に。 工業用ビジョンによる多用途の検査ソリューション INSPEX OUTは、1台または複数台のデジタルカメラ、被検査品を撮影するのに適したレンズと照明、画像処理ソフトウェア、および必要な管理ポイントに適合したアルゴリズムの組み合わせがベースとなっています。 INSPEX OUTは、航空宇宙、自動車、電子機器、医療機器、パッケージングなどのシステムまたはサブシステムの検査に適しています。 特に、組み立てられた製品や複数の材料を扱う製品に適しています。 なぜユニークなのか？ 多彩なコントロール - ...
... X線検査装置 X-1200 - SMT/Semicon/Solar/ハーネスコネクタ/LED PCB (LED 1200mm用特殊) - 高精細な画像。斜行/ブリッジ/ボイド/コールドハンダ/ボンディングワイヤー - 90KV 5μm の閉鎖した X 線管、長い生命と、自由の維持 - 130万個の高解像度デジタルフラットパネル検出器 - カラー画像ナビゲーション、使いやすい - プログラムの自動検出と自動解析 NG または OK アプリケーション 1) ICパッケージの欠陥検査、例えば、層分離、クラック、ボイド、ラインインテグリティ。 2) ...
Shenzhen Zhuomao Technology Co., Ltd.
... - グリーンセラミックシートの検査用に設計 - ウェットプリント、ドライプリント、ビアホールの検査 - 高い検査分解能 - 高度な照明と視覚アルゴリズム - 検出 - ショート - オープン - ネックダウン - マウスバイト - 画面の伸び、 - スクリーンのズレ - コンタミネーション ...
... は、ベンチトップタイプのエントリーX線検査装置です。コンパクトなX線検査装置なので、机の上に直接置くことができ、小規模な工場やオフィスなどどこでも使用することができます。 また、検出器の位置を上下させることで、サンプルの幾何学的な拡大率を調整することができます。 ステージの大きさ、移動による撮影範囲 precision μB3200」は、小さな回路基板や小さな部品の撮影に最適です。例えば、モニター画像の最大倍率は125倍、検査領域は2.5×2.8mm、適用可能な撮影範囲は150×200mmです。 ポイント 精巧に作られた高電圧電源を使用 新設計による長寿命化 短いFOD 安全のために 当社が提供するX線リーク測定は、各ユニットの全方向から実施し、1μSv/hr以下であることを確認してから出荷しています。 X線遮蔽技術 安心して設置していただくために、放射線遮蔽の設計を入念に行っています。 一般的に、遮蔽物に使われる鉛は柔らかく変形しやすい素材ですが、鋼板と組み合わせた多層構造を採用することで、鉛が変形することなく長期間使用することができます。 日常生活での使用には全く影響のない極低レベルです。 ...
... X-8000電子半導体検査装置は、BGA、IGBT、フリップチップ、PCBA部品溶接などの集積回路チップ半導体を検出するために使用することができ、LED、光起電および他の産業の高精度テスト;広く自動車部品、鋳造試験、圧力容器、パイプ溶接品質検査や新素材分析などの工業製造分野で使用され、電源電池、シリンダー、フレキシブル包装、正方形のシェルとラミネートなどの電池のvarioustypesの欠陥を検出することができます。 セミコンX線検査システムの特徴：セミコンX線検査システム 1.ステージはX、Y方向に移動でき、検出器と光パイプはZ方向に移動でき、速度は低速、中速、高速に分けられる。 2.有効な検出範囲はより大きくなり、製品の倍率と検出効率が向上します。 3.製品側面の傾きによる欠陥の判別が容易で、死角のない検出を実現します。 4.世界トップクラスの日本製浜松X線源を採用。 5.半導体パッケージの金線の屈曲や断線が容易に判別できます。 6.編集可能な検出プログラムにより、CNC自動検出を実現。 7.大量検出、検出効率の向上、NG品の自動判定に適しています。 8.超大型自動ナビゲーションウィンドウを搭載し、マウスクリックでステージを指定の位置に移動できます。 9.操作は非常に便利で、項目の欠陥を迅速に見つけることができ、検出効率を向上させます。 10.安全性が高く、EUのCE証明書、国際品質管理システムISO、X線のAERB証明書があります。 ...