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X 線検査機 / デジタル断層撮影 / 測定用
XT H 225

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X 線検査機 X 線検査機 - XT H 225
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特徴

  • 技術:

    X 線, デジタル断層撮影

  • その他の特徴:

    測定用

詳細

エントリーレベルのXT H 160と汎用性の高いXT H 225システムは、マイクロフォーカスX 線源、大きな検査量、高画像解像度を提供し、超高速 CT 再構成に対応します。 プラスチック部品の検査、小型鋳物、複雑な機構の検査、材料や天然試料の研究など、幅広い用途に対応しています。

メリット
3µmの焦点距離スポットサイズを備えた独自の225kVマイクロフォーカスX 線源が
容易なシステム操作と低所有コスト優れた
洞察力を提供する見事な
画像高性能画像取得とボリューム処理
簡単な検査オートメーション
安全第一

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