製品紹介本機は半導体用シリコンウェーハの端面の面取り加工を目的に設計され、4インチ、6インチ、8インチのウェーハに対応します。OF(Orientation Flat)面の加工に対応し、NOTCH溝加工をオプションで選択可能です。量産環境に適した高精度・高効率・安定稼働を実現します。
製品仕様本体寸法(L*W*H):2,250 * 1,650 * 2,600 mm;重量:3,000 kg
対応ウェーハ寸法:4"、6"、8"
ウェーハ厚さ範囲:300 μm ~ 1,500 μm
ワークステーション:デュアルワークステーション
ウェーハ参照面:OF / Notch(Notchはオプション)
設備占有寸法(W*D*H):2,250 * 1,650 * 2,600 mm
研削X/Y/Z軸精度:±1 μm;セラミック吸着パッド面精度:≤3 μm
研削台主軸端面及び径方向精度:±1 μm;砥石主軸端面及び径方向精度:±1 μm
砥石外径:Φ202 mm;取付け穴径:Φ30 mm;砥石厚さ:20 mm
砥石回転数:0–4,000 r/min(カスタマイズ可)
Notch用砥石回転数:0–100,000 r/min(カスタマイズ可)
対応砥石形状:T、R、TT、RR、TR 等
ウェーハ厚さ測定:接触または非接触;繰返し測定精度 ±2 μm;測定点:円周8点+中心1点
洗浄方式:回転洗浄
乾燥方式:遠心乾燥
搬送(積込/取出):ボックス数:4;スロット数:25(調整可能)
特長 / 技術仕様- 型式:GC-BD804
- 用途:半導体シリコンウェーハの端面面取り(4"、6"、8")
- 本体寸法(L*W*H):2,250 * 1,650 * 2,600 mm
- 本体質量:3,000 kg
- ウェーハ厚さ処理範囲:300 μm ~ 1,500 μm
- ワークステーション構成:デュアルワークステーションにより生産性向上
- 参照面加工:OF対応;Notch加工はオプション
- X/Y/Z位置決め精度:±1 μm;セラミック吸着パッド面精度 ≤3 μm
- 研削台及び砥石の端面・径方向精度:±1 μm
- 砥石仕様:外径 Φ202 mm、内径 Φ30 mm、厚さ 20 mm
- 砥石回転数は顧客要件に応じて設定可能(0–4,000 r/min);Notch砥石は 0–100,000 r/min
- 対応砥石タイプ:T、R、TT、RR、TR 等
- 厚さ測定システム:接触または非接触;繰返し精度 ±2 μm;測定点:円周8点+中心
- 回転洗浄および遠心乾燥プロセスを統合
- 搬送設計:25スロット(調整可能)を有する4ボックス