概要高精細なガラス露光向けに設計された本システムは、微細パターン露光に最適化されたUV光学系と、フォトマスクと基板を高精度に平行化する機構を統合しています。真空コンタクト、ソフトコンタクト、近接ギャップの各露光モードに対応した全自動動作。マスクサイズに応じて垂直/水平の構成を用意:垂直は大型マスク(G5以上)、水平はG4.5以下を推奨します。
用途FPD(フラットパネルディスプレイ)、TP(タッチパネル)、CF(セルファブ)製造ラインでのガラス処理に適しています。
仕様- 対応基板サイズ:G4.5 - G8.5
- アライメント精度:±1 μm
- 露光モード:真空コンタクト、ソフトコンタクト、近接ギャップ
主な特長- 高精細露光に最適化されたUV光学系
- フォトマスクと基板を高精度で平行化する機構
- 選択可能な露光モードを備えた全自動動作
- 構成:垂直(G5以上推奨)および水平(G4.5以下推奨)
- FPD/TP/CFの生産ラインへの組み込みを想定した設計