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... ベンチトップ ContourX-100光学プロフィロメータは、クラス最高の価格帯で正確で再現可能な非接触表面計測のための新しいベンチマークを設定します。小型フットプリントシステムは、数十年にわたる独自のブルーカーホワイトライト干渉法(WLI)イノベーションを取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3D高解像度測定機能を提供します。次世代の機能強化には、新しい5 ...
Bruker Handheld XRF Spectrometry
... 世界最速64,000プロファイル/秒。あらゆる製品・形状の測定を実現するスピード 特徴 ブルーレーザー光学系 64,000プロファイル/秒 サンプリング 12,800,000ポイント/秒 74種類の測定モード ...
... します。 シャドーグラフの原理を使用して、エンジン、トランスミッションシャフト、ターボチャージャー、バルブ、ピストンなど、さまざまなシャフト形状のワークを分析します。 光学測定システムは、非接触測定サイクルによって数秒で特徴付けられます。 インテリジェントなハードウェアとソフトウェアインターフェイスにより、自動化された生産プロセスに CA シリーズの測定システムをシームレスかつ柔軟に統合できます。 ...
... した精密測定に最適です。 WMS シリーズは、測定範囲全体にわたる柔軟性と高い測定精度 で評価されています。 これは、性能や解像度を損なうことなく、最大直径の双方向プロービングを提供できるカスケードカメラシステムによって保証されています。 WMS 測定システムは、非常に大型のワークピースでもわずか数秒で測定できるため 、生産プロセスを最適化し、効率的に監視することができます。
... mmまで拡張できます。70 mmの大きな垂直方向の測定範囲を使用することで、イメージフィールドのサイズにかかわらず、優れた垂直方向の解像度を得ることができます。テレセントリックな光学設計により、ドリルホールのようなアクセスしづらい場所や深く入り込んだ場所も探索できます。また、データ収集・評価ツール、ルーチン検査のための事前定義された測定レシピ、自動チップチルトステージ、バーコードスキャナなどのソフトウェアアドオンを備えた統合ソフトウェアサポートを利用することで、形状測定と粗さ評価のハイブリッドシステム ...
Polytec
微細構造・粗さ測定用コンパクト光学式プロファイラ TopMap Micro.View®は、白色光干渉計TopMapシリーズのコンパクトな測定システムで、表面構造、表面テクスチャ、表面粗さのパラメータを繰り返し高精度で検査・評価することができます。CSTコンティニュアス・スキャニング・テクノロジーを搭載し、100mmのZ軸移動により、100mmの測定範囲とナノメートル範囲の垂直分解能を提供します。この光学式プロフィロメーターは、エレクトロニクスを統合したコンパクトな設計が特徴で、自動フォーカスファインダー ...
Polytec
あらたな次元の光学式三次元形状測定器 TopMap Micro.View +は、次世代の光学式形状測定器です。この総合的なワークステーションは、モジュール方式のデザインによって、それぞれのアプリケーションの要求に合わせた特有の構成を可能にします。Micro.View +は、表面粗さ、表面の詳細、および微細構造の形状測定について、詳細な分析を提供します。3D データをカラー情報と組み合わせて、欠陥を詳細に記録するなどの見事な視覚化や広範囲の分析を実現します。高解像度カメラは、非常に詳細な設計表面の ...
Polytec
... 分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 アプリケーション 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と解析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...
... 分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。独自の光源により、平滑面と粗面を持つ様々な精密部品を測定することができます。 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と分析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...
... 分析機能を備えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 用途 半導体、3Cエレクトロニクス、超精密加工、光学加工、マイクロナノ材料、微小電気機械システムの産業から精密部品の表面粗さとプロファイルの測定と解析に使用されます。 平坦度、粗さ、うねり、外観、表面欠陥、摩耗、腐食、隙間、穴、段差、曲率、変形など、様々な製品、部品、材料の表面形状やプロファイル特性を測定・解析します。 ...
... を1つのパッケージに組み合わせて、ZYGOの最先端の垂直走査低コヒーレンス干渉計 (CSI) プロファイラです。 この非接触のテクノロジーは、すべての倍率でサブナノメートルの精度を提供し、他のテクノロジーよりも高速かつ正確に広範囲の表面を測定することができます。Nexview NX2は、ほぼすべての表面と材料の、平坦度、粗さ、うねり、薄膜、ステップ高さなど、さまざまな用途に対応できる、完成されたプロファイラです。 資料請求
Zygo
生産現場で使える白色干渉計 ZeGage™ ProとZeGage™ Pro HR 白色干渉計は、製造現場での品質管理とプロセス管理を保証する、さまざまな種類の表面のマイクロスケールとナノスケールの非接触表面測定と特性評価を提供します。 当社の業界をリードするZeGage Proシリーズは、ベンチトップクラスの産業用白色干渉計の性能、使いやすさ、柔軟性と精度を保証します。ZYGO独自のCSIテクノロジーに基づいて構築されたZeGage ...
Zygo
NewView™ 9000 白色干渉計は、非接触式光学表面プロファイリングに力強い汎用性をもたらします。このシステムは鏡面、粗面、平面、傾斜、階段状など、さまざまな種類の表面を簡単に素早く測定できます。測定はすべて非破壊かつ高速で、試料の前処理は不要です。 システムの中核を成すのは、ZYGOのコヒーレンススキャン干渉測定 (CSI) テクノロジーです。これにより、すべての倍率でサブナノメートルの精度を実現し、他のテクノロジーよりも高速でより正確に、より広い範囲の表面を測定することができます。 ...
Zygo
... スマートプロジェクター 224 高速産業用ビデオ測定器 "Smart_Projector "では自動化が可能です。 客観的で再現性があり、簡単かつ迅速 寸法品質検査 簡単かつ迅速に SmartVisionのSmart_Projectorは、あらゆる部品の完全な自動寸法チェックを簡単かつ迅速に行うために設計された初のユニークな装置です。 自動化と生産性 従来のプロファイルプロジェクタとマイクロメータキャリパを革命的にデジタル化したもので、パーツアライメントや手動コリメーション、フォーカスの必要がなく ...
自動化されたフリーフォーム光学測定システム。高精度フリーフォーム光学部品を素早く正確に測定。 Taylor Hobson のフォーム タリサーフ PGI (Phase Grating Interferometer：位相格子干渉計) は、多用途の高精密のフリーフォーム光学測定用高分解能 3D フリーフォームプロフィロメータです。表面仕上げおよびフリーフォーム光学レンズの形状分析を行います。 概要 自由曲面の光学部品を高速に、 ...
TAYLOR HOBSON
... システムの主な利点により、小型レンズの大量生産に最適です。光学面、およびインターロック表面の真円度、フラットレンズ表面の平坦度などの幾何学的特徴、これらの特徴に対する光学表面の位置を測定することができます。 スマートフォン用レンズの非接触式3D計測のための、世界最速で最も精度の高いシステム。 LUPHOScan SLは、超高速度測定やレンズの幾何学的特徴 (インターロック面の真円度、フラットレンズ面の平坦度、これらの特徴に対する光学面の位置など) ...
TAYLOR HOBSON
非球面、自由曲面光学部品・レンズ成形測定用の非接触式3D形状測定装置 The LUPHOScan HD 非接触式3D光学プロフィロメータ / 形状測定装置は、逸脱の大きい非球面や自由曲面など、困難な表面の半径や不規則性の、最も精度の高い非接触式3D形状測定を提供します。その優れた安定性が、最も困難な環境でも精度を保証し、精度を損なうことなく、高速の測定サイクル時間を実現します。新世代の3Dプロフィロメータ ...
TAYLOR HOBSON
... において最も多機能な産業システムとして位置付けられます。 S onixは、インライン検査とプロセス管理における極めて高い高速性能、すなわち高スループットの表面計測へのニーズに対応しており、今日利用できる最高速の産業システムとして位置付けられています。 かつてない 高速性 S onixは、高スループット産業用計測システムに要求される速度を提供します。その高速カメラと最適化された光学および機械設計により、S ...
Sensofar Metrology
... サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。 ソリューション ワンショット 光学式3D形状測定システム - 高度な製造・加工 - 考古学・古生物学研究 - 大衆消費電化製品（CE） - 医療機器 - モールディング - 光学 - 時計
Sensofar Metrology
新しい S neox は、性能、機能、効 率、デザインの全ての面で既存の 光学3Dプロファイリング顕微鏡を 凌駕する、クラス最高の面形状計 測システムです。 さらに速く スマートでユニークな新しいアル ゴリズムとカメラにより、全てをさ らに速く実行できます。データ取 得速度は 180fps で、標準測定 時間は5倍も短縮されました。新 しいS neoxは市場で最速の面形 状測定システムです。 使い易く Sensofarでは最高の性能・品質 ...
Sensofar Metrology
... 画像処理付き2次元視覚測定器。 -照明システムは、プロファイルと表面の両方のために、（各90°の4つのセクター）チョークすることができます。 -高解像度および超低歪みレンズ。 -最終倍率20倍～125倍（光学倍率0.7倍～4.5倍、1/3インチCCD、17インチビデオ）。 -ELBOソフトウェアを標準装備。他のVMMソフトウェアのロードが可能です。 -SPC：あらゆるタイプの統計的プロセスレポートの作成と編集が可能です。 -コントロールルームまたはショップフロアに直接設置可能。 ...
... 幾何学的図形への自動、シーケンシャルな位置決めを持っています。 -プロファイルとサーフェス用のイルミネーションシステムは、それぞれ90°の4セクターで構成され、チョークを使用することができます。 -高解像度、超低歪みレンズ。 -最終倍率20倍～125倍（光学倍率0.7倍～4.5倍、1/3インチCCD、17インチビデオ）。 -ELBOソフトウェアを標準装備。他のVMMソフトウェアのロードが可能です。 -SPC：あらゆるタイプの統計的プロセスレポートの作成と編集が可能です。 ...
... 高精度の測定のための画像処理を備えた2D視覚測定機 •測定経路の取得と日常的な測定操作の両方のためのCNC操作 •照明システム（輪郭と表面の両方用）は窒息可能（各90°の4セクタ） •高分解能と超低温歪みレンズ； •20倍から125倍までの最終倍率（光学倍率0,7倍～4,5倍、1/3インチCCD、17インチビデオ） •ELBOソフトウェアを標準装備。 いずれにせよ、マーケットから他のVMMソフトウェアをロード することは可能です。•SPCは、あらゆるタイプの統計プロセスレポートを準備し、カットすることができます ...
... れています。 防塵・防滴ハウジングにより非常に堅牢 モダンで直感的なユーザーインターフェース どんな角度でも、また照明条件が悪くても見える回転式ディスプレイ 完全な測定コントロール。 光、音、振動による測定中のフィードバック 完璧なフィット感。 コンパクト設計で片手で簡単操作 コーティングプロセス用に設計 防錆塗料の塗布に最適な準備 校正が簡単 最高レベルの精度を実現 ...
... が迅速かつ簡単に行えます。Tencor P-17 スタイラスプロフィロメーターは、2Dまたは3D測定に対応し、さまざまなフィルタリング、レベリング、解析アルゴリズムにより、表面形状を定量化します。パターン認識、シーケンス、特徴検出により、完全自動計測を実現します。 特徴 - ステップ高さナノメートルから1000μm ...
KLA - TENCOR
... パナソニックのUA3Pプロフィロメーターシリーズは、非球面レンズや金型、半導体ウェハー、その他ナノメートルレベルの精度が要求される精密部品を最大200mm x 200mmまで測定できるように設計されています。光学測定や高アスペクト比測定のニーズに合わせて、様々な機種をご用意しております。 UA3P-300、UA3P-4、UA3P-5は、CMMの測定範囲とAFM技術の精度をユーザーに提供します。スタイラスには原子間力プローブ技術を採用し、XYZ軸の位置決めにはHeNeレーザーを用いた干渉計を使用する ...
... 数秒で最大200万個のデータポイントを取得できます。適切な光学プロファイルメータシステムの選択は、速度、精度、垂直範囲、自動化、柔軟性など、アプリケーションの要件によって異なります。 IMOS光学表面プロファイラは、非接触光学表面プロファイリングに強力な汎用性を提供します。このシステムにより、スムーズ、ラフ、フラット、傾斜および段差など、幅広い表面タイプを簡単かつ迅速に測定できます。すべての測定は非破壊で高速で、特別な試料調製は不要です。システムのコアには、サブナノメートルの精度を提供する部分的 ...
... 粗さと表面仕上げの測定方法 IF-Profilerは、表面仕上げの高分解能測定のためのハンドヘルド3D 粗さ測定システムです。 ユーザーは 1つのシステムだけで、平坦な部品と湾曲した部品の粗さを測定します。 測定は、プロファイルベース (ISO 4287) と面積ベース (ISO 25178) の両方で行われます。 軽量 IF-Profilerは、3D 測定センサーと堅牢で、同時に便利なフレームワークで構成されています。 人間工学に基づいた設計は、使いやすさと要求された機械的剛性を兼ね備えています ...
... AFMや3Dスタイラスプロファイロメーターの半分以下の価格で光学式プロファイロメーターを手に入れることができます。Profilm30は、最先端の白色光干渉法（WLI）を採用し、0.05ymまでの表面形状と粗さを測定します。PSIオプションを追加すると、垂直方向の最小形状は0.001pmになります。Profilmソフトウェアは、曲面や段差のある場所でも、表面のテクスチャ（粗さ）を含めた全画像を解析することができます。また、より大きな画像を解析するために、複数の画像をつなぎ合わせることも可能です。 ...
... プロメックス・オブジェクティブは、人間の目には見えにくいウェブの倒れ込みを発見します。 これらのエラーは、寸法測定システムのアドオンとして、あるいは独立したシステムとして、表面仕上げの前に素早く特定することができます。 ホイルを貼り付け、プロファイルをシステムに挿入すると、数秒で結果が得られます。 ...
... 鉄道車両測定モジュールを備えた非接触型のCalipri C4xシリーズは、完全なホイールセット試験のためのユーザーに依存しない結果を持つシンプルなプロファイルゲージに対する鉄道業界のニーズを満たします。 CALIPRIは、ラインに沿った多機能性を意味します。 非接触測定技術により、1つの測定装置でホイールプロファイル、ホイール直径、ブレーキディスク、バックツーバック距離を検査できます。 ...
NEXTSENSE GmbH
... アプリケーション WLICyl * White Light Interferometer / WLI probe ラボやショップフロアでの品質管理に。 * シリンダーボア * ライナー 仕様 非接触式3次元表面形状測定器 ※ベースフレーム60-150用のアダプタープレートまたは可変式3爪チャックとの組み合わせが可能です。 WUCylは、白色光干渉法の原理に基づいた高精度の光学式プロフィロメーターで、後工程や統計的工程管理のために設計されています。測定ヘッドの移動は、手動で行うか、ソフトウェアに座標を入力して ...
... モバイル3D光学式表面形状測定装置 3D表面形状は、製品の特徴を表す重要なパラメータであり、製品の総合的な性能に影響を与えます。光学式や触覚式の卓上型3Dプロファイラが広く普及していますが、携帯型の非接触式プロファイラにも独自の利点があります。これは主に品質管理の目的で使用され、特に工場の自動化に適しています。製品のフィンガープリントを内蔵したTRACEiT®は、製品の品質を示すグリーン/レッドライトを提供します。 TRACEiT®は、モバイル用光学式プロファイラとしては圧倒的に高速（測定時間15 ...
... シンプルから非常に複雑なプロファイルの表面検査のための新しいキー技術 — 革新的で革新的です！ このモジュール式でスケーラブルなシステムは、専門のセンサ技術、コンパクトな設計、インテリジェントなプロセス制御を特長とし、不良率を低減し、プロセスコストを最小限に抑え、品質を再現性と安全にします。 これにより、完全に完璧な材料のみが顧客に出荷されます。 業界固有の製品 車体、フード、ドアのシーリングプロファイル... ...
PIXARGUS GmbH
... 20m、50m、100mの3つのプロファイリングレンジを用意 ボトムマウントまたはボートマウント リアルタイムおよびボトムトラッキングオプション 最大16Hzのデータレート 複数の同時サンプリング戦略をサポート 生データを記録し、将来のデータ処理に利用可能。研究目的や観測データの特徴に応じて、異なる時間スケールでの分析が可能。 既製品のバッテリーオプション ワイヤレスデータダウンロード ワイヤレスブラウザによるセットアップ（ソフトウェア不要 セットアップツールにより、複雑な変動要因にもかかわらず、 ...
... インライン計測・検査アプリケーション向け高性能3Dプロファイラセンサ Z-Trakは、レーザー三角測量を使用した高解像度のリアルタイム高さ測定を実現する3Dプロファイルセンサのシリーズです。これらの軽量IP67定格プロファイルセンサは、自動車、電子機器、半導体、ファクトリーオートメーションにおけるインライン測定、検査、識別、ガイダンスアプリケーションに最適です。 Z-Trakシリーズは、さまざまな動作条件で信頼性の高い再現性の高い測定結果を提供します。Z-Trakモデルは、対象物の幅が8.5 ...
詳細をお書きください:
サ－ビス改善のご協力お願いします:
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