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Soquete de teste para dispositivos eletrônicos de quartzo GUT8 Series
de burn-in

Soquete de teste para dispositivos eletrônicos de quartzo - GUT8 Series - JC CHERRY INC. - de burn-in
Soquete de teste para dispositivos eletrônicos de quartzo - GUT8 Series - JC CHERRY INC. - de burn-in
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Características

Aplicações
para dispositivos eletrônicos de quartzo
Especificações
de burn-in

Descrição

Tomada de teste para dispositivo de cristal (osciladores de quartzo, MEMS, etc.) Tipo de topo aberto Esta tomada de teste foi concebida para a configuração automática de dispositivos e é ideal para a avaliação do desempenho de componentes como osciladores de cristal. - Compatível com vários tamanhos de embalagens: 2016, 2520, 3225, 5032, entre outros - Optimizado para custos e prazos de entrega - Desenhos personalizados disponíveis mediante pedido com especificações do dispositivo Especificações (típicas) Corrente nominal: 0,5A a 25°C Resistência de contacto inicial : 200mΩ max Tensão de resistência dieléctrica: AC100V rms 1 min Resistência de isolamento: 1000MΩ min a DC100V Gama de temperaturas : -40 a +150°C

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Tradução automática  (ver texto original em inglês)

Catálogos

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TestSockets for Characterization Test

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.