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Soquete de teste para dispositivos eletrônicos de quartzo GU10 Series
de burn-inde altas frequênciasmanual

Soquete de teste para dispositivos eletrônicos de quartzo - GU10 Series - JC CHERRY INC. - de burn-in / de altas frequências / manual
Soquete de teste para dispositivos eletrônicos de quartzo - GU10 Series - JC CHERRY INC. - de burn-in / de altas frequências / manual
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Características

Aplicações
para dispositivos eletrônicos de quartzo
Especificações
de burn-in
Outras características
de altas frequências, manual

Descrição

Tomada de teste e gravação para osciladores de quartzo, MEMS, etc. Tipo Clam-shell, Alta Frequência Tamanho da estrutura 10x16mm / 0.39x0.63" Concebida para a regulação manual do dispositivo. Adequado para testes de avaliação de características. Utiliza pinos de sonda ultra-curtos com uma estrutura flutuante, adequado para utilização em altas frequências. - Temperatura -40 a +150°C (tip.) - Elevada fiabilidade - Custo competitivo - Personalizável para se adaptar ao seu dispositivo Tipos de dispositivos alvo: Unidade de Cristal de Quartzo, Osciladores de Quartzo, Dispositivos MEMS, Filtros SAW, ressonadores de diapasão, etc.

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Tradução automática  (ver texto original em inglês)

Catálogos

GU10 Series
GU10 Series
3 Páginas

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.