Soquete de teste para TO (Transistor Outline) GD26-QDPAK-x-S151X155
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Características
- Aplicações
- para TO (Transistor Outline)
Descrição
Tomada de teste para o pacote QDPAK
- Soquetes de teste que maximizam o desempenho do SiC/GaN MOSFET
- Compatível com testes de fiabilidade THB e HTRB
- Contactos internos de alto desempenho garantem estabilidade em condições adversas
- A ligação Kelvin (opcional) permite uma comutação rápida e uma avaliação precisa
Resistência de contacto : 50mΩ max
Corrente nominal: 12A a 25°C (entre dreno e fonte)
Tensão de resistência : DC2000V 1min a 25°C
Resistência de isolamento: 500MΩmin a DC500V
Temperatura de funcionamento: -40 a +200°C (incluindo o aumento de temperatura devido à corrente eléctrica)
Compatível com: AIMCQ120R020M1T, AIMDQ75R016M1H, etc.
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Catálogos
GD26-QDPAK-x-S151X155
3 Páginas
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Surface-Mount Power Device Test Sockets: for the SiC/GaN Era
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.