Microscópio eletrônico de varredura (MEV) miXcroscopy™

de laboratóriode pisode alta resolução

O mesmo suporte de amostras pode agora ser usado tanto para o microscópio óptico como para o microscópio electrónico de varrimento. Como resultado, ao gerenciar as informações de estágio com software dedicado, é possível que o sistema registre os locais observados com o microscópio eletrônico de varredura, e depois aumente ainda mais as mesmas áreas com o microscópio eletrônico de varredura para observar as estruturas finas com maior ampliação e maior resolução. Agora é possível comparar e verificar as imagens do microscópio óptico e as imagens do microscópio electrónico de varrimento de forma fácil e suave. Aquisição de dados e observação intuitiva com o uso de cores Ao adicionar informação de cor de luz visível da imagem do microscópio óptico (que não pode ser obtida com a imagem SEM), fornece uma imagem SEM com um efeito visual mais intuitivo. A busca suave do alvo tira partido das características do microscópio óptico A observação com o microscópio óptico torna possível encontrar facilmente as estruturas alvo, que são difíceis de distinguir utilizando imagens SEM. Evita danos na amostra devido ao feixe de electrões Para evitar danos ou contaminação pelo feixe de elétrons, a descoberta da área de interesse é feita primeiro usando o microscópio óptico. Isto permite a observação SEM com dose mínima de radiação para o local de observação.