JEM-F200 é um novo microscópio eletrônico de transmissão de emissões de campo, que apresenta maior resolução espacial e desempenho analítico, um novo sistema de operação fácil de usar para operação multiuso, uma aparência inteligente e vários sistemas amigáveis ao meio ambiente e de economia de energia.
Desenho inteligente
O JEM-F200 tem uma nova, e bela aparência.
Incorpora uma nova e intuitiva interface de utilizador, especificamente concebida para microscopia electrónica analítica.
Também apresenta uma excelente estabilidade mecânica e elétrica, o que reflete a experiência de engenharia da JEOL acumulada ao longo dos anos.
Sistema condensador Quad-Lens
A microscopia eletrônica atual requer o suporte a uma ampla gama de técnicas de imagem, desde TEM de campo brilhante/campo escuro até STEM que utiliza uma variedade de detectores.
O JEM-F200, com seu novo sistema óptico de 4 estágios de formação de sonda, ou seja, Sistema Condensador de Quad-Lente, controla a intensidade e o ângulo de convergência do feixe de elétrons independentemente, para responder aos diferentes requisitos de pesquisa.
Sistema de Scan Avançado
O JEM-F200 incorpora um novo sistema de digitalização, o Advanced Scan System, que é capaz de digitalizar o feixe de elétrons nos sistemas formadores de imagem da sonda. Isto realiza um amplo campo STEM-EELS.
Pico Stage Drive
A JEM-F200 utiliza um pico stage drive, que é capaz de conduzir o palco em degrau de 200 pico meters sem um piezo drive, e movendo a área de visão com uma ampla gama dinâmica, desde uma grelha de amostra inteira até imagens de ordem atómica.
SPECPORTER (dispositivo de carga/descarga do suporte automático)
O carregamento/descarregamento de um suporte de amostras foi considerado um erro humano de operação, especialmente para os iniciantes.
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