Microscópio eletrônico de transmissão (MET) JEM-F200

para análisesde campo claroem campo escuro

O JEM-F200 é um novo microscópio eletrónico de transmissão por emissão de campo, que apresenta uma resolução espacial e um desempenho analítico mais elevados, um novo sistema de operação fácil de utilizar para operações polivalentes, uma aparência inteligente e vários sistemas de poupança de energia amigos do ambiente. Características - Design inteligente O JEM-F200 tem um aspeto novo e elegante. Incorpora uma nova e intuitiva interface de utilizador especificamente concebida para microscopia eletrónica analítica. Também apresenta uma estabilidade mecânica e eléctrica extraordinária, que reflecte a experiência de engenharia da JEOL acumulada ao longo dos anos. - Sistema de condensador Quad-Lens A microscopia eletrónica atual requer o suporte de uma vasta gama de técnicas de imagem, desde TEM de campo claro/campo escuro até STEM que utiliza uma variedade de detectores. O JEM-F200, com o seu novo sistema ótico de formação de sonda de 4 fases, ou seja, o sistema de condensador de lente quádrupla, controla a intensidade e o ângulo de convergência do feixe de electrões de forma independente, para responder aos diferentes requisitos de investigação. - Sistema de varrimento avançado A JEM-F200 incorpora um novo sistema de varrimento, o Sistema de Varrimento Avançado, que é capaz de varrer o feixe de electrões nos sistemas de formação de sondas de imagem. Isto permite a realização de STEM-EELS de campo alargado. - Unidade de estágio Pico A JEM-F200 utiliza uma unidade de fase pico, que é capaz de conduzir a fase em passos de 200 pico metros sem uma unidade piezoeléctrica, e mover a área de visualização com uma vasta gama dinâmica, desde uma grelha de amostras completa até imagens de ordem atómica.