Espectrômetro de fluorescência de raios X por dispersão de energia JED-2300T

para análiseSDD

A AnalysisStation JED-2300T é um sistema de integração de TEM/EDS baseado num conceito de "Imagem e Análise". A gestão de dados é efectuada através da recolha automática de parâmetros como a ampliação e a tensão de aceleração, juntamente com os dados de análise. Características Estão disponíveis três tipos de EDS com detetor de desvio de silício (SDD), com uma área de deteção de 30 mm2, 60 mm2 e 100 mm2, respetivamente. Quanto maior for a área de deteção, maior será a sensibilidade de deteção. Ao incorporar o detetor Dry SD100GV (área de deteção de 100mm2) no JEM-ARM200F (HRP), é possível obter simultaneamente uma grande área de receção de luz e uma elevada resolução, sendo possível distinguir claramente os elementos de luz como "B,C,N,O". Mapeamento elementar de alta velocidade O detetor Dry SD100GV, com elevada sensibilidade, detecta uma partícula de catalisador Au em apenas um minuto de tempo de medição. - Espécime: Partícula de catalisador Au suportada em óxido de Ti - Instrumento: JEM-ARM200F + Detetor Dry SD100GV - Tempo de medição Aproximadamente: 1 minuto - Corrente da sonda: 1nA - Número de pixels: 256 x 256 pixels - Mapeamento da resolução atómica - As colunas atómicas de Sr e Ti estão claramente segregadas. Mapeamento da resolução atómica As colunas atómicas de Sr e Ti estão claramente segregadas. - Espécime: SrTiO3 - Instrumento: JEM-ARM200F + Detetor Dry SD100GV - Tempo de medição Aprox.: 10 minutos - Corrente da sonda: 1nA - Número de pixels: 128 x 128 pixels