Microscópio eletrônico de varredura (MEV) JCM-7000 NeoScope™

para análises3Dde bancada

Os microscópios electrónicos de varrimento de bancada são utilizados numa vasta gama de campos, tais como as indústrias eléctrica, electrónica, automóvel, de maquinaria, química e farmacêutica. Além disso, as aplicações de MEV estão a expandir-se para abranger não só a investigação e o desenvolvimento, mas também o controlo de qualidade e a inspecção de produtos nos locais de fabrico. Com isto, a procura de uma maior eficiência de trabalho, de uma operação muito mais rápida e fácil e de um maior grau de capacidades analíticas e de medição está a aumentar. O Microscópio Electrónico de Varrimento de Bancada JCM-7000 foi concebido com base num conceito-chave de "SEM fácil de utilizar, com navegação perfeita e análise em tempo real". O JCM-7000 incorpora três funções inovadoras: "Zeromag" para uma transição suave da imagem óptica para a imagem SEM, "Live Analysis" para encontrar elementos constituintes para uma área de observação de imagem e "Live 3D" para apresentar uma imagem 3D reconstruída ao vivo durante a observação SEM. Quando se coloca o JCM-7000 junto a um microscópio óptico, é possível efectuar uma análise mais rápida e detalhada de materiais estranhos e um controlo de qualidade. Características Observação e análise rápidas sem tratamento da amostra com o SEM de bancada JCM-7000! -Introdução à utilização efectiva do modo de baixo vácuo (LV) Porque não experimenta uma observação SEM de espécimes isolantes que não conduzem electricidade tal como estão, sem qualquer pré-tratamento? Apresentaremos exemplos de utilização efectiva do JCM-7000 em modo de baixo vácuo (LV) para materiais poliméricos, materiais industriais, minerais, alimentos e organismos vivos/plantas.