Microscópio eletrônico JEM-120i
para inspeçãoautomáticode observação

Microscópio eletrônico - JEM-120i - Jeol - para inspeção / automático / de observação
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Características

Tipo
eletrônico
Aplicações técnicas
para inspeção
Outras características
automático, de observação
Ampliação

MÁX: 1.500.000 unit

MÍN: 50 unit

Resolução espacial

0,14 nm, 0,2 nm

Descrição

Com a redução drástica do tamanho, o JEM-120i tem uma posição de substituição do filamento e uma posição de inserção do suporte de amostras mais baixa do que os instrumentos existentes. Uma unidade de filamento do tipo cartucho recentemente desenvolvida ajuda a tornar a substituição do filamento fácil e segura para qualquer pessoa. O instrumento tem uma luz LED na parte da frente e a sua cor muda consoante o estado do TEM. É possível determinar o seu estado de funcionamento à distância. São necessários apenas 4 passos desde o carregamento de uma amostra até à conclusão da observação. Depois de inserir o suporte da amostra, clicar no botão Iniciar executa automaticamente as operações de preparação da observação, como o aumento da tensão e o início da emissão. Ao mesmo tempo, é captada uma imagem de área alargada. Assim, ao clicar no campo alvo, a platina move-se para a posição clicada. Uma vez que o "modo Butler" padrão auxilia a aquisição de dados, até um principiante pode captar dados facilmente. Quando a observação estiver concluída, pode trocar o suporte de amostras mantendo a emissão ligada. Observação sem interrupções sem mudar o modo de ampliação A JEM-120i está equipada com um sistema de controlo TEM melhorado e aberturas totalmente automatizadas, eliminando a necessidade de mudar os modos de ampliação e selecionar uma abertura. As operações de observação podem ser efectuadas com mais facilidade do que nos modelos anteriores. O JEM -120i suporta uma variedade de adaptações. Também satisfaz a necessidade de funções adicionais após a compra. Aplicações CryoNote Observação de amostras biológicas por JEM-1400Flash ー Fluxo desde a preparação da amostra até à observação ー CLEMnote Observação de uma vasta área utilizando um chip de janela SiN

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