Microscópio eletrônico de varredura (MEV) JSM-IT200
para análisesCCDautomático

Microscópio eletrônico de varredura (MEV) - JSM-IT200 - Jeol - para análises / CCD / automático
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Características

Tipo
eletrônico de varredura (MEV)
Aplicações técnicas
para análises
Tipo de detector
CCD
Outras características
automático, em tempo real, de observação

Descrição

O JSM-IT200 é um SEM fácil de utilizar, centrado no desempenho de custos das funcionalidades elevadas do JSM-IT500 (modelo topo de gama) do InTouchScopeTM, com um rendimento significativamente superior. O Specimen Exchange Navi, uma função para principiantes, oferece uma operação guiada desde o carregamento da amostra até à pesquisa de áreas e observação de imagens SEM. "Zeromag" para uma transição perfeita da imagem ótica para a imagem SEM, "Live Analysis "*2 para visualização em tempo real dos resultados da análise elementar, SMILE VIEW(TM) Lab para a geração de relatórios contínuos de resultados de observação e/ou análise, etc., proporciona uma análise rápida com transição integrada de OM para SEM. Observação, análise e geração de relatórios rápidas! A série JEOL InTouchScope™, a ferramenta analítica de alto desempenho com três funções principais. Specimen Exchange Navi: Operação guiada desde a introdução da amostra até à observação Um guia passo-a-passo para a troca de amostras, definição de condições e geração automática de imagens. Observação rápida! "Zeromag" Pode localizar a área do espécime ou especificar posições de análise com Holder Graphics ou imagem CCD ótica*1 apresentada no ecrã principal. Análise rápida! "Análise em direto "*2 O espetro de raios X caraterístico da área de medição e os principais elementos constituintes são exibidos durante a observação. Geração rápida de relatórios! SMILE VIEW™ Lab: gestão integrada de dados Um simples clique no botão de gestão de dados apresenta o ecrã de gestão de dados, permitindo-lhe gerar um relatório de todas as imagens e dados de análise, bem como rever ou reanalisar dados já adquiridos.

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