温度測定システム IMS-K-SiPh

光学ウェハー用半導体用

Keysight Photonicsアプリケーションを搭載した包括的なターンキー統合測定システム（IMS）。 ハードウェアとソフトウェア FormFactorとパートナーのKeysightアプリケーションの専門家が、以下のような堅牢で完全なソリューションを構成するお手伝いをします。 - FormFactorプローブシステムCM300xi、SUMMIT200、MPS150（他もあり） - マニュアル、セミオートマチック、フルオートマチックプローブのステーションオプション - FormFactor 分析用プローブ。手動またはモーター駆動のポジショナー上のRFおよびDCプローブ - FormFactor内蔵型シングル、デュアルまたは3面HexNano光学ポジショニング - FormFactor フォトニクス自動化ソフトウェア。光学ポジショナーの自動校正と制御のためのSiPh-ToolsとPhotonics Controller Interface - 40℃から+125℃までの温度測定と自動化 - チューナブルレーザ、パワーメータ、偏光シンセサイザ。Keysight N7776C、N7778C、N7744C、N7745C、N7786C、N7788C（その他対応可） - モジュラ・レーザKeysight 81606A、81607A、81608A、81602A (その他) - Keysight半導体パラメータ・アナライザまたは光-電気変換（O-E）用PXIe SMU。B2901A、B1500A、M9601A PXI SMU (他の製品も利用可能) - キーサイトのテスト／オートメーション・オプトウェアPhotonics Application Suite (PAS)、PathWave Test Automation with FormFactor Wafer prober Plug-in - システム完成のために：ケーブル、アダプタ、取り付け金具など