温度測定システム IMS-K-DC

ウェハー用

Keysight SPAを使用した総合的なターンキー統合測定システム（IMS） オンウエハーDCパラメトリック測定用 FormFactorとパートナーのKeysightアプリケーション・エキスパートが、以下のような堅牢で完全なソリューションを構成するお手伝いをします。 - FormFactorのプローブシステム。CM300xi、SUMMIT200、MPS150（他もあり） - マニュアル、セミオートマチック、フルオートマチックプローブのステーションオプション - FormFactor 分析用プローブDCPプローブ（その他あり）、手動または電動ポジショナー付き - フォームファクターDCオートメーションソフトウェア小型パッドでの温度オーバー測定用自律型DC測定アシスタント - 60℃から+300℃までの完全な過温度測定と自動化 - キーサイトの半導体パラメータアナライザおよび/またはPXIe SMU。B1500A (他の製品も利用可能) - キーサイトの自動化およびモデリング・ソフトウェアウエハープロXP、パスウェーブ、IC-CAP - システム完成のために：ケーブル、アダプタ、取り付け金具など 業界で最も生産性の高い、高精度なDCパラメトリック測定システム DCパラメトリック測定は、半導体製品の開発・製造の各段階において、ほぼすべてのデバイスタイプおよび半導体技術に関する意思決定に重要な役割を果たしています。先端材料研究、プロセス特性評価、デバイス特性評価とモデリング、デザイン・デバッグ、プロセス・モニタリング、生産ウェハー・ソートにおいて重要な役割を担っています。正確で再現性の高いDCパラメトリック測定（IV、CV、パルス、ハイパワー）により、不確かさを低減します。