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... 説明
AVIシステムでスキャンされたIC基板ストリップ用のAVI検証ステーション。SVS 10μ（CIMS AVI検証ステーション、Sprint™搭載）は、10 µmまでのライン/フィンガー形状の検証向けに設計されています（10–18 µmに最適化）。
本システムは反射/同軸光チャネルと3つの拡散チャネルを組み合わせ、金めっき面やはんだマスク上でのコントラストを最大化します。光学設計により欠陥のマーキングや不良ユニットのスクラップが可能です。堅牢な機械構造と専用ハードウェアにより高スループットと運用安定性を実現します。
SVS ...
CIMS
... 概要
SVS 4μは、AVIシステムでスキャンされたIC基板のストリップ検証用に設計されたAVI検証ステーションです。Sprint™搭載で、線幅／フィンガー幅4 µm〜8 µmの技術に最適化されています。照明は反射／同軸チャネルと3つの独立した拡散チャネルを組み合わせ、金めっき面やソルダーマスク上でのコントラストを最大化します。光学設計により欠陥のマーキングや不良ユニットのスクラップが可能です。堅牢な機械構造と産業用ハードウェアにより高いスループットと信頼性を実現します。ユーザーインターフェースは人間工学に基づき、最小限のトレーニングで操作できます。SVS ...
CIMS
... 説明
SVS 5μ は、Sprint™ により駆動される CIMS AVI 検証ステーションで、AVI システムでスキャンされた IC 基板ストリップの検証用に設計されています。5–8 µm のライン／フィンガー幅の検査に最適化されており、精密な検証とマーキング機能を備えています。
ハイライト
- 柔軟なビデオ照明構成（反射／同軸チャネル＋3つの拡散チャネル）
- 自動材料キャリブレーション
- 安定した搬送を実現する固定真空テーブル
- 人間工学に配慮した設計
- スループット向上のための欠陥間移動の最適化
- 調整可能なビデオ照明による鮮明な欠陥画像
オプション
- バーコードリーダー
- 調整可能なモニター位置
- 欠陥分類と仮想欠陥マッピング用
CIMS
... 説明
SVS 8μ CIMS は、IC基板向けの AVI 検証ステーションで、AVI システムでスキャンされたストリップを最小 8 µm のライン/フィンガー分解能で検証するよう設計されています。Sprint™ によって駆動され、8〜12 µm のライン/フィンガー幅技術に最適化されており、精密な欠陥処理と高いスループットを実現します。
光学および照明
反射/同軸光チャネルと3つの独立した拡散チャネルを組み合わせ、金めっき面やソルダーマスク上でのコントラストを最大化します。光学系は欠陥の鮮明な画像を提供し、不良ユニットのマーキングやスクラップを容易にします。堅牢な機械構造と工業グレードのハードウェアが安定した性能を保証します。
操作性と互換性
SVS ...
CIMS
... ピンノズルフィルター オプト・ソリーノ RTI センサー
100-SO-10-MAN-001 / AN_SO_PN_26-05
顧客の課題 ピンノズルフィルターは、ろ過、流体制御、定量供給で使われる高精度の微小穿孔部品です。メーカーは、マイクロ孔配列、孔の形状、孔縁の状態、基板表面の仕上げ、孔内の汚染を確実に検査する手法を求めています。
検査の課題 微小で反復する特徴や反射性のある金属表面により、従来のマシンビジョンでは検査が困難です。主な課題
- 研磨・加工された金属の強い鏡面反射やまぶしさ
- 多数の小さな繰り返し孔の一貫した検出の必要性
- 流れに影響する孔縁のバリやエッジ不良
- 照明方向により見え方が変わる孔内の深さ・影の影響
- 微小孔内の粒子・残留物・閉塞
- 加工痕や磨きムラなどの表面仕上げ差が欠陥を覆い隠す場合
- 部品全体の工程変動による表面外観の不一致
技術原理 ...
... 表面欠陥検査装置 - シングルビュー シングルカメラ式表面欠陥検査装置（SI1100）は、溶接部やバー、テープ、プロファイルなどの平板製品の表面を撮影し、分析、判定します。SIシリーズは、表面や寸法の欠陥を検出する最も徹底した方法です。 テイマーのSurface Inspectorを使えば、お客様にお届けする製品がお客様の高い基準を満たしており、表面欠陥がないことを確認することができます。 SIシリーズは、お客様の特定の要件に適応するために、さまざまなカメラ構成を備えています。 表面欠陥の低減 サーフェスインスペクターは、生産ラインの表面品質について、オペレーターに秒単位のデジタル画像フィードバックを提供します。この連続したリアルタイムの情報（特に故障画像）により、オペレーターは表面や寸法の不完全さの原因を切り分けることができます。この結果、表面欠陥の原因を特定することができ、顧客からのクレームや不良品の発生を防ぐことができます。 品質保証 表面欠陥検出器を使って製品の画像を撮影し、ディスクに保存したり、プリントアウトしたりして、社内や顧客への品質報告に役立てることができます。また、表面検査機のディスプレイでは、技術者や生産監督者が欠陥を簡単に調べることができます。また、欠陥の位置を記録しておけば、後から欠陥の詳細な分析が可能になります。 特徴 ...
... reflectCONTROLは、光沢のある物体の表面検査に使用されます。コントローラーを内蔵したRCS110-245モデルは RCS110-245は、コントローラを内蔵したモデルで、静止した状態での測定や機械への組み込みが可能です。このコンパクトなセンサーは、測定対象物の表面からセンサーカメラに映し出されるストライプパターンを表示します。表面の偏差は、このストライプパターンからの偏差を引き起こし、ソフトウェアによって評価され、曲率画像として表示されます。GigE Visionでは、表面の画像をさまざまな画像処理ソフトウェアパッケージに転送して、さらなる分析を行うことができます。 完全に自動化された表面検査タスクや大型部品の欠陥検出には ロボットベースの完全な ...
... スマートファクトリー検査システム（sfis アピは、より高精度な部品測定の自動化に対する製造業のニーズが高まっていることを認識し、実績のある計測技術と校正部品を用いて、真の6自由度（6DoF）リアルタイム3Dロボット測定を行うスマートファクトリー検査システムを開発しました。 SFISは、カスタマイズされた統合ソリューションとして、または標準的な生産検査セルとして提供することができます。 標準APIのSFIS CheckBoxTMは、生産部品の検査や製造工程に不可欠な設置のために開発された光学式3D測定ソリューションです。モジュール式のデザインで、サイズの拡張が可能なCheckBoxは、ベンチマークであるAPI ...