光学式検査機器 SVS 8μ

ビデオ ビジョンカメラ型自動

説明
SVS 8μ CIMS は、IC基板向けの AVI 検証ステーションで、AVI システムでスキャンされたストリップを最小 8 µm のライン/フィンガー分解能で検証するよう設計されています。Sprint™ によって駆動され、8〜12 µm のライン/フィンガー幅技術に最適化されており、精密な欠陥処理と高いスループットを実現します。

光学および照明
反射/同軸光チャネルと3つの独立した拡散チャネルを組み合わせ、金めっき面やソルダーマスク上でのコントラストを最大化します。光学系は欠陥の鮮明な画像を提供し、不良ユニットのマーキングやスクラップを容易にします。堅牢な機械構造と工業グレードのハードウェアが安定した性能を保証します。

操作性と互換性
SVS 8μ は人間工学に基づいたユーザーインターフェースを備え、最小限のトレーニングで運用可能です。欠陥およびスクラップユニットのデータ管理には CDB™ および CDBIC™ に対応し、全ての CIMS AVI システムおよびサードパーティのレーザーマーキング機と互換性があります。

ハイライト

• 柔軟なビデオ照明構成
• 材料の自動較正
• 据え置き型真空テーブル
• オペレータの快適性を考慮した人間工学設計
• 欠陥間移動を最適化した動作でスループット向上
• 調整可能なビデオ照明による鮮明な欠陥画像

オプション

• バーコードリーダー
• 調整可能なモニタ位置
• CDB™/CDBIC™ — 欠陥分類および仮想欠陥マッピング

仕様 / 技術仕様

• モデル: SVS 8μ
• Brand: CIMS
• 用途: IC基板向け AVI 検証ステーション
• 最小ライン/フィンガー分解能: 8 µm
• 最適化対象ライン/フィンガー幅: 8–12 µm
• 照明: 反射/同軸チャネルおよび3つの拡散チャネル
• 光学: 金めっき面およびソルダーマスクで高コントラストを実現
• 欠陥処理: 欠陥マーキングまたは不良ユニットのスクラップ
• 機構・ハードウェア: 堅牢な機構と工業グレードのハードウェアで高スループットを実現
• ユーザーインターフェース: 人間工学に基づく、最小限のトレーニングで運用可能
• 互換性: CIMS AVI システムおよびサードパーティのレーザーマーキング機と互換
• データ管理: CDB™ および CDBIC™ と互換
• オプション機能: バーコードリーダー; 調整可能なモニタ位置; 欠陥分類および仮想欠陥マッピング
• 特別機能: 材料の自動較正; 据え置き型真空テーブル; 欠陥間移動の最適化; 調整可能なビデオ照明
• ソフトウェア: Sprint™ によって駆動