光学式検査機 AIVR 25μ
ビデオプリント基板エレクトロニクス産業用

光学式検査機 - AIVR 25μ - CIMS - ビデオ / プリント基板 / エレクトロニクス産業用
光学式検査機 - AIVR 25μ - CIMS - ビデオ / プリント基板 / エレクトロニクス産業用
お気に入りに追加する
商品比較に追加する

特徴

技術
光学式, ビデオ
応用
プリント基板
分野
エレクトロニクス産業用
その他の特徴
自動, 高解像度, ハイスループット, AIアシスト

詳細

概要
AIVR 25μ は、HDI および多層 PCB の量産向けに設計された AI 搭載の AOI 検証ステーションです。ソフトウェアによる仮想検証とライブ映像による物理検証を一つのワークステーションで統合し、線幅/間隔 25~100 µm に最適化されています。AIVR モードでは、AOI が取得した欠陥画像を AI アルゴリズムで強調表示し、オペレータが偽検出を迅速に除外して真の欠陥を優先的に確認できます。検証結果はデータベースに統合され、オプションのタッチスクリーンで欠陥分類と QA へのリアルタイムフィードバックが可能です。

特長
  • AOI の後処理画像検証とライブ映像モードを組み合わせ
  • 従来モードに対して最大 90% の検証効率向上
  • AOI から直接取得した AI 強調の高解像度カラー欠陥画像を表示
  • 可変ズームと自動キャリブレーション
  • 基板固定用の固定真空テーブル
  • 人間工学に基づいたワークステーション設計
  • 調整可能なビデオ照明による鮮明な欠陥表示

オプション
  • 欠陥マーキング用オートマーカー
  • バーコードリーダー
  • 調整可能なモニターアーム
  • CDB™/CDBIC™ – 欠陥分類および仮想欠陥マッピング
  • SharpLight™ – 映像強調機能

仕様
  • 線幅/間隔に最適化されたモデル:25 – 100 µm
  • AI による画像強調と検証ワークフロー
  • 仮想(ソフトウェア)と物理(ライブ映像)検証を一つのワークステーションで実現
  • HDI および多層 PCB の大量検証向けに設計
  • オペレータによる AOI 取得欠陥画像の確認と AI による偽検出フィルタリング
  • 検証結果とトレーサビリティのためのデータベース統合
  • 欠陥分類と QA へのリアルタイムフィードバック用オプションタッチスクリーン
  • 正確な検査のための可変ズームと自動キャリブレーション
  • 基板安定化のための固定真空テーブル
  • 人間工学に配慮したワークステーション設計
  • 欠陥の鮮明な映像のための調整可能なビデオ照明
  • 互換性:すべての CIMS AOI システムで動作
  • オプション/アクセサリ:オートマーカー、バーコードリーダー、調整可能なモニターアーム、CDB™/CDBIC™、SharpLight™

CIMSのその他の関連商品

PCB Inspection and Metrology

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。