光学式検査機器 Galaxy R2R 25μ
カメラ型自動ロボット

光学式検査機器 - Galaxy R2R 25μ - CIMS - カメラ型 / 自動 / ロボット
光学式検査機器 - Galaxy R2R 25μ - CIMS - カメラ型 / 自動 / ロボット
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特徴

技術
カメラ型, 光学式
操作方法
自動, ロボット
タイプ
品質管理, 欠陥検出用, 測定用
応用
電気産業用, プリント基板用
設定
インライン
その他の特徴
高解像度

詳細

概要
自動光学検査(AOI)によるロールツーロール工程のフレキシブルプリント配線板(FPC)検査。Galaxy R2R 25 µm は、フレックスおよびリジッドフレックス基板のロールツーロール生産向けに設計され、最小25 µmのライン/スペース検出に対応します。Microlight™ Gen II 照明は均一な光カバレッジを提供し、高い検出要件に対応します。高解像度画像取得と Spark™ 3.0 検出エンジンを組み合わせ、低い誤検知率で精度の高い欠陥検出を実現します。フロント AMHS やロボットとの統合に対応し、ライン内生産に適合します。

特長
  • スムーズで静粛な動作を実現するリニアモーター
  • コンパクトな機械プラットフォーム
  • 高性能な画像処理ファームウェア
  • 改良された照明ブロック(Microlight™ Gen II)
  • 新規ジョブの高速かつ直感的なセットアップ
  • フロント AMHS 自動化またはロボットに対応

オプション
  • +2DM™ 測長 – パネル寸法測定
  • +2CD™ 測長 – 回路要素の2D測定
  • LDI™ – レーザードリル検査オプション
  • CDB™/CDBIC™ – 欠陥分類および仮想欠陥マッピング
  • VVS™ – 仮想検証システム

仕様
  • 検査タイプ:ロールツーロール工程向け自動光学検査(AOI)
  • 最小ライン/スペース検出:25 µm
  • 対応基材:フレックスおよびリジッドフレックス基板
  • 光学技術:Microlight™ Gen II 照明
  • 検出エンジン:Spark™ 3.0 クロスプラットフォーム検出エンジン
  • 画像取得:高解像度画像取得ハードウェア
  • ソフトウェア:低誤検知率の高度な検出アルゴリズム
  • 駆動系:スムーズで静粛な動作を実現するリニアモーター
  • 機構:コンパクトなプラットフォーム
  • 互換性:フロント AMHS 自動化またはロボットに対応
  • オプション計測:+2DM™(パネル寸法)、+2CD™(回路要素2D)
  • オプション検査モジュール:LDI™、CDB™/CDBIC™、VVS™

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。