光学式検査機器 AIVR 10μ
ビデオ ビジョンカメラ型AI

光学式検査機器 - AIVR 10μ - CIMS - ビデオ ビジョン / カメラ型 / AI
光学式検査機器 - AIVR 10μ - CIMS - ビデオ ビジョン / カメラ型 / AI
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特徴

技術
カメラ型, 光学式, AI, ビデオ ビジョン
タイプ
品質管理, 欠陥検出用, ビジュアル, ビデオ, カラー
応用
電気産業用, プリント基板用
その他の特徴
高解像度

詳細

説明 AIを搭載したAOI検証ステーション。HDIおよびIC基板向けで、最小ライン/スペース10 μmに対応。AIVRは仮想(AOIの後処理画像)と物理(ライブ映像)の検証を一つのワークステーションで統合します。AIVR 10μはHDIおよびIC基板の大量生産を支援するために設計され、10〜25 μmのライン/スペース技術の検証に最適化されています。AIVRモードでは、AOIが取得した欠陥画像をAIベースの画像強調アルゴリズムで処理して表示し、オペレータは明らかな誤検知を迅速に除外できます。本システムにより検証効率と処理速度が大幅に向上し、結果はデータベースへシームレスに統合されます。タッチスクリーン(オプション)で欠陥分類を行い、QAへリアルタイムに重要なフィードバックを提供できます。AIVR 10μはすべてのCIMS AOIと互換性があります。

ハイライト
  • 後処理されたAOI画像の検証とライブ映像モードを組み合わせ
  • 従来モードと比べて最大90%の検証効率向上
  • AOIから直接取得した高解像度カラー欠陥画像をAIで強化して表示
  • 可変ズームと自動キャリブレーション
  • 固定式バキュームテーブル
  • 人間工学に基づく設計
  • 鮮明な欠陥画像と調整可能な照明

オプション
  • 欠陥マーキング用オートマーカー
  • バーコードリーダー
  • 調整可能なモニターアーム
  • CDB™ / CDBIC™ – 欠陥分類と仮想欠陥マッピング
  • SharpLight™ – 映像の高画質化

仕様 / 技術仕様
  • 製品ファミリ: AIVR
  • 用途: HDIおよびIC基板のAOI検証
  • 対応最小ライン/スペース: 最小10 μm(10〜25 μm技術に最適化)
  • モード: 仮想(AOI後処理画像)と物理(ライブ映像)検証の組み合わせ
  • 画像処理: AIベースの画像強調アルゴリズムで誤検知をフィルタリングし、AI強化された高解像度カラー欠陥画像を表示
  • 統合: データベースおよびQAフィードバックへのシームレスな統合
  • オペレータインターフェース: 欠陥分類用のオプションタッチスクリーン
  • 機械的特徴: 固定式バキュームテーブル、人間工学設計、調整可能なビデオ照明
  • キャリブレーション: 可変ズームと自動キャリブレーション
  • 互換性: すべてのCIMS AOIシステムと互換

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。