光学式検査機器 Galaxy Flex 25μ

自動ロボット表面欠陥

説明
フレックスおよびリジッドフレックスPCBの検査向けAOIで、最小ライン/スペース25 µmまで対応。Galaxy Flex 25μは、フレックスおよびリジッドフレックス基板の大量生産に対応するよう設計されたCIMS AOIシステムです。本機は25 µmライン/スペースの技術をスキャン可能で、厳しい検出要件に対応する最適な照明を提供するMicrolight™ Gen II光学モジュールを搭載しています。設定可能な検出アルゴリズムと組み合わせることで、高解像度の画像取得と精度の高い欠陥検出を実現します。Galaxy Flex 25μはSpark™ 3.0クロスプラットフォーム検出エンジンで動作し、一貫した検出ワークフローを可能にします。

ハイライト

• リニアモーターによるスムーズで静かな動作
• コンパクトな機械プラットフォーム
• 高性能画像処理ファームウェア
• 強化照明ブロック（Microlight™ Gen II）
• 新規ジョブの高速かつ直感的なセットアップ
• フロントAMHS自動化またはロボット搬送に対応

オプション

• +2DM™ 測定 – パネル寸法測定
• +2CD™ 測定 – 回路要素の2D測定
• LDI™ – レーザー穴あけ検査オプション
• CDB™/CDBIC™ – 欠陥分類および仮想欠陥マッピング
• VVS™ – バーチャル検証システム

仕様 / 技術仕様

• 製品タイプ：フレックスおよびリジッドフレックスPCB向けAOI（自動光学検査）
• 最小ライン/スペース対応：25 µm
• 光学技術：Microlight™ Gen II（厳しい検出向けの強化照明）
• 検出エンジン：Spark™ 3.0（クロスプラットフォーム検出エンジン）
• 対象生産：大量生産向けに設計
• 画像取得＆ソフトウェア：高度なソフトウェア機能を備えた高解像度画像取得
• 検出性能：高い検出感度と低い誤検知率
• 駆動システム：スムーズで静かな動作を実現するリニアモーター
• 機械設計：コンパクトな機械プラットフォーム
• 自動化互換性：フロントAMHS自動化またはロボット統合に対応
• 利用可能なオプション：+2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™