光学式検査機器 Galaxy PVH

自動充填率欠陥検出用

概要
Galaxy PVHは、最小検査可能ビア径75 µmのプラグドビア（PVH）検査用AOIシステムです。同一のPCBパネル上で樹脂充填のスルーホールとレーザーフィルドビアの両方を検査でき、MLBおよびHDI基板の大量生産に対応します。PVHオプションは機械ドリルとレーザードリルの両タイプのビア検査を可能にし、充填ドリル内部の欠陥を確実に検出します。

主な特徴

• 樹脂充填ドリル内部の欠陥を高精度で検出
• リニアモーターによる滑らかで静かな駆動
• コンパクトなGalaxyプラットフォーム上に構築
• 高性能な画像処理ファームウェア
• 大容量データを処理する高性能プロセッサ
• 新ジョブの設定が高速で直感的
• プロセス制御向けの充実した統計出力

オプション

• ドリルシフトと径違反を算出する統計パッケージ
• CDB™/CDBIC™ – 欠陥分類および仮想欠陥マッピング
• VVS™ – 仮想検証システム

技術仕様

• 製品タイプ：プラグドビア（PVH）用AOIシステム
• 最小検査可能ビア径：75 µm
• 同一パネル上で樹脂充填スルーホールとレーザーフィルドビアの両方を検査
• 対象市場/用途：MLBおよびHDI基板の大量生産向け
• 光学技術：最適な照明カバレッジを提供するMicrolight™
• 検出：厳格な欠陥検出を実現するカスタマイズ可能な検出アルゴリズム
• 機構：滑らかで静かな駆動を実現するリニアモーター
• プラットフォーム：コンパクトなGalaxyプラットフォームに基づく設計
• 処理：高性能な画像処理ファームウェアと大容量データ対応の高性能プロセッサ
• 設定：ジョブ設定が高速で直感的
• データ＆制御：リアルタイムのプロセス制御およびレーザードリルツールの補正に用いる強力な統計パッケージ
• 利用可能なオプション：ドリルシフト/径違反用統計パッケージ、CDB™/CDBIC™分類と仮想欠陥マッピング、VVS™仮想検証