光学式検査機器 SVS 4μ
ビデオ ビジョンカメラ型自動

光学式検査機器 - SVS 4μ - CIMS - ビデオ ビジョン / カメラ型 / 自動
光学式検査機器 - SVS 4μ - CIMS - ビデオ ビジョン / カメラ型 / 自動
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特徴

技術
カメラ型, 光学式, ビデオ ビジョン
操作方法
自動
タイプ
品質管理, 欠陥検出用, 表面欠陥, ビデオ, 反射面用, はんだ付け用, マーキング
応用
電気産業用
その他の特徴
高解像度

詳細

概要
SVS 4μは、AVIシステムでスキャンされたIC基板のストリップ検証用に設計されたAVI検証ステーションです。Sprint™搭載で、線幅/フィンガー幅4 µm〜8 µmの技術に最適化されています。照明は反射/同軸チャネルと3つの独立した拡散チャネルを組み合わせ、金めっき面やソルダーマスク上でのコントラストを最大化します。光学設計により欠陥のマーキングや不良ユニットのスクラップが可能です。堅牢な機械構造と産業用ハードウェアにより高いスループットと信頼性を実現します。ユーザーインターフェースは人間工学に基づき、最小限のトレーニングで操作できます。SVS 4μはCDB™およびCDBIC™と完全互換で、CIMS AVIシステムやサードパーティ製レーザーマーキング機と連携可能です。

特長
  • 柔軟なビデオ照明構成
  • 材料の自動較正
  • 安定したハンドリングのための固定真空テーブル
  • 作業者に配慮した人間工学的設計
  • スループット向けに最適化された欠陥間移動
  • 調整可能なビデオ照明による明確な欠陥画像

オプション
  • バーコードリーダー
  • 調整可能なモニタ位置
  • CDB™/CDBIC™ — 欠陥分類と仮想欠陥マッピング

仕様
  • 最小線幅/フィンガー幅:4 µm(4–8 µmに最適化)
  • 照明:反射/同軸光チャネルと3つの独立拡散チャネル
  • 光学:欠陥のマーキングや不良ユニットのスクラップをサポート
  • 機構・ハードウェア:高スループットと信頼性を実現する産業設計
  • ユーザーインターフェース:人間工学に基づく使いやすさ、最小限のトレーニングで運用可能
  • 互換性:CIMS AVIシステムおよびサードパーティ製レーザーマーキング機と互換;CDB™/CDBIC™と完全互換

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。