As fases do scanner de nanoposicionamento SMARFLEX utilizam as vantagens das flexões mecânicas acionadas por piezoeléctricos para realizar tarefas de posicionamento altamente precisas até vários 100 μm.
O PLF3232-xy.60 oferece uma gama de varrimento de 60 μm nas direcções X e Y. Com 45 g, é muito leve e também bastante compacto, com 32 x 32 x 20 mm. Combina dois scanners PLF3232-x.60 num só, com menos altura de construção mas com o mesmo desempenho.
Devido ao tamanho e ao padrão de orifícios, adapta-se perfeitamente a outros estágios e posicionadores lineares, como o CLS-3232, em que se combinam um longo alcance de deslocação e uma elevada precisão.
Especificações
Alcance de varrimento [µm] - > 60
Força normal máx. Força normal [N] - 5
Dimensões [mm] - 32 x 32 x 20
Peso [g] - 45
Material da base
Material da base - Titânio (-TI) / Base de alumínio (-Al)
Circuito aberto
Resolução em circuito aberto MCS2 [nm] - MCS2: <1
Circuito fechado
Resolução do sensor MCS2 [nm] - MCS2: 1 (S)
Opções
Opções de vácuo - HV (10-⁶mbar)
Opção não magnética - Sim (- NM)
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