Microscópios de elétrons secundários Hitachi

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... O SU9000 II é uma combinação de SEM de imagem de superfície e microscópio de transmissão de varrimento com resolução de estrutura intrínseca (STEM) optimizado para uma resolução extrema. Isto é possível graças à ótica ...

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm

... produto: - Emissor de campo Hitachi Schottky durável e estável com corrente de sonda até 200nA - Brilhante desempenho de imagem - sem necessidade de um campo de desaceleração na amostra - de 100V (opção de 10V) até 30kV de tensão de aceleração. ...

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm

... , secções em série de micrótomo, etc.). Equipado, tal como o SU8700, com a ótica universal de electrões de alta resolução e sem campo da Hitachi (constituída por um emissor Schottky e um amplificador de feixe), o SU7000 possui também ...

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... Detetor multifunções opcional "UVD": Electrões secundários em baixo vácuo, cátodo sinal de luminescência, transmissão (STEM, em conjunto com um suporte de amostras especial) - Ótica de electrões moderna e sem campo, ...

Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 15 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer ...

Ampliação : 10 unit - 250.000 unit

... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço ...

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... ideal para imagens de alta resolução e EELS - Corretor de Cs Hitachi STEM, totalmente automatizado - Detetor de electrões secundários para informação sobreposta na superfície da amostra em correlação com o sinal dos electrões transmitidos - ...