Microscópios para nanotecnologia Bruker

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. O SU9000 é o novo SEM premium da HITACHI. Apresenta uma ótica de electrões única, com a amostra posicionada dentro ...

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm

... para abordar estes aspectos e muito mais, fornecendo informações melhoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica. Experimente o nano-mundo com o SU7000! Capacidade versátil de aquisição ...

Resolução espacial: 1,2 nm

... simples entre o modo de alto vácuo e o modo de pressão variável. O EM Wizard é um sistema baseado no conhecimento para imagens SEM que vai para além das condições e receitas básicas predefinidas. A sua facilidade de utilização ...

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... amostras sem ventilar a câmara de amostras, melhorando o rendimento. - Aumenta a manipulação de amostras com o Modo Livre de Estágio*. - O Chamber Scope aumenta a segurança dos movimentos da plataforma*. área de visualização ...

Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 5, 15 nm

... uma caraterística anteriormente apenas disponível num SEM de tamanho normal. Este SEM funciona com energia limpa para uma ferramenta analítica económica, sem comprometer o desempenho. O ...

Ampliação : 10 unit - 25.000.054 unit
Peso: 54 kg
Comprimento: 614, 617 mm

... A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade ...

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... (Cold FEG) - Coluna e fontes de alimentação ultra-estáveis para um melhor desempenho do instrumento - Capacidade de imagem SEM e STEM com correção de Cs simultânea e resolução atómica - Nova plataforma de entrada lateral ...

Peso: 990 kg
Largura: 1.190 mm
Altura: 1.800 mm

... em ambiente de vácuo, através da nossa conceção intuitiva de funcionamento da sonda. - Este sistema de sondagem baseado em SEM é utilizado para analisar defeitos e falhas que se podem desenvolver durante o processo de ...

... um método rápido e eficaz para identificar circuitos abertos, alta resistência e curto-circuitos ao longo das interligações sem técnicas de sondagem direta de camadas de nível inferior. A técnica EBAC é realizada com ...

... DF, DIC e POL para as análises múltiplas. Microscópio invertido de nível de entrada para aplicações gerais para testes de dureza. Microscópio invertido industrial e da ciência dos materiais especialmente ...