Brukerの検査機

... TGI 8302.LLT は、ラジアルまたは横方向の不均衡の測定のようなタイヤ形状の監視を目的としています。 また、バルジ、くびれ、へこみなどの側壁検出用です。 これは、生産プロセスの最後に最も重要な検査の1つです。 正確な測定結果を提供するのと簡単に統合できます。 光学測定原理とトータルサーフェイススキャンを備えた一般的なTU 機械に最適です。 これは、耐久性、最小限の振動構造で疑似誤差率を低減し、100mm 〜 460mmのタイヤ幅を有する。 ...

... ビジュアライゼーション・ソフトウェアには、統計処理ツールや測定結果をさまざまなフォーマットでエクスポートするツールが含まれています。測定システムは完全に覆われているため、測定プロセスへの外光の影響や寄生反射の発生を最小限に抑えることができます。長さ検査装置CONTROL TLI 8303.Iと寸法検査装置CONTROL TPWI 8302.LCの追加統合に備え、このプロファイルメーターは押出ラインの完全品質管理のための効率的なベースとなっています。 ...

欠陥及びパターン形状の3D観察で G&Cデバイス*1の開発TAT短縮と品質向上に貢献 Φ200 mm以下のウェーハを自動搬送した後、クリティカルなパターン位置や欠陥検査装置で検出された欠陥位置へ正確に移動し、試料ステージ傾斜機能を活用して三次元的なSEM観察を行うことができます。 さらに、観察対象に対して元素分析機能（EDS：Energy Dispersive-X-ray Spectrometer）*2による構成元素の推定を可能にしました。 *1） G&Cデバイス:グリーン＆コミュニケーションデバイス ...

高速ADR、高精度ADCにより歩留まり改善に貢献するインライン対応レビューSEM • 最先端デバイス開発、量産に対応したSEM分解能 • 電気特性（R / C）を半導体プロセスの途中で指標化することが可能 • 自社比2倍の高スループット • 3nm世代に対応したパターン無しウェーハ上の欠陥レビューと分析が可能 • AI-ADC（自動欠陥分類）搭載により欠陥分類精度向上

ウェーハ表面検査装置LSシリーズは，パターンなし（鏡面）シリコンウェーハ上に存在する微小異物や欠陥を検査する装置です。レーザー散乱応用技術を用い，パターン形成前の半導体鏡面ウェーハ上の微小異物やさまざまな欠陥を高感度・高速に検査します。低段差・平坦系欠陥であるシャロースクラッチ，ウォーターマーク，スタッキングフォールト（積層欠陥），研磨起因突起欠陥，成膜起因平坦欠陥などが不良の原因となります。LSシリーズは，これら欠陥からの散乱光を捕捉しつつ，同時にウェーハ表面からの背景ノイズを抑制することで高感度検査 ...

検査領域の幅: 80 mm

ブラベンダーFQAシステムは、ブローフィルムやフラットフィルムの品質を光学的に評価するシステムです。新しいプラスチックの開発や、リサイクルまたは生分解性ポリマーの処理における品質保証に適しています。FQAユニットは、ユニベックスのフラットフィルム引取装置、ブローフィルム引取装置、ブラベンダーオートグレーダーなどのブラベンダー周辺機器に接続されています。 FQAは、黒い粒子、ゲル、穴、押し出し線などの欠陥を検出し、分類しています。検出された欠陥の数とサイズ分布に基づいて、フィルム品質指数(FQI)が連続的に決定されます。FQAはブラベンダーのMetaBridgeソフトウェアによって操作され、FQAとプロセスデータの統合的な表示と評価が可能です。 箔の不均一性は、典型的なグレー値レベルを持つ特定の透明画像を作成します。カメラシステムは、乱れのないフィルム背景のグレー値と不均質な部分のグレー値の差を検出します。フィルムの領域とエッジを自動的に検出し、自然な照明条件に応じて光量を最適化します。 評価ソフトウェアは、グレー値に基づいて欠陥の種類を決定し、欠陥の長さ、幅、面積、円直径を測定します。検出された欠陥の画像には、カラーでマーキングが施されます。温度などのパラメータ変動がフィルムの品質に与える影響を直接観察することができます。

... X 線 AXI システム •とても使いやすい 2D X 線電子機器検査技術と 3D コンピューター断層撮影 (CT) オプションが 1 つのシステムに •電子アセンブリー、コンポーネント、PCBA のプロセスおよび品質管理に最適なエントリーレベルの非破壊検査 160 kV X 線 AXI システムで、生産性と収益性の両方を確保 Phoenix X|aminer は、電子アセンブリー、コンポーネント、PCBA ...

電子機器向けの高性能プレミアムナノフォーカスおよびマイクロフォーカス検査 Phoenix Microme|x Neo および Nanome|x Neo Phoenix Microme|x Neo および Nanome|x Neo は、高解像度の 2D X 線技術、PlanarCT と 3D コンピューター断層撮影 (CT) スキャンを1つのシステムで提供し、半導体、PCB、リチウムイオン電池 などの電子部品の非破壊試験 ...

並ぶもののない柔軟性と効率を持つ産業用 microCT および nanoCT スキャナー 検査技術の進歩により、2D X 線検査、3D コンピューター断層撮影 (microCT と nanoCT®)、3D 計測用の非常に用途の広い高解像度システムが生まれました。 小さな機器の CT スキャンは、最大 2 倍高速な microCT スキャンと 2 倍の解像度のおかげで、これまでになく効率的になりました。 速度、検出の詳細度、またはその両方を向上させる必要があるとしても、Baker ...

... 高分解能3次元X線顕微鏡 SKYSCAN 1272は、最大209メガピクセル（14450x14450ピクセル）の仮想スライスを非破壊で可視化することができ、16メガピクセルのカメラをトリプルオフセットモードで使用した場合、1回のスキャンで2600以上のスライスを実現します。位相コントラストの向上により、0.35umまでの物体の詳細を検出することができます。 サンプルと大型CCDカメラの両方を光源にできるだけ近づけることで、測定強度を大幅に向上させることができます。これが、カメラ位置を固定した従来のシステムと比較して、SKYSCAN ...

... Skys is 1275 全自動高速 X 線マイクロトモグラフィ X 線マイクロコンピュータ断層撮影は、サンプル調製がほとんどまたはまったくなくても、あらゆる材料、形状、あらゆるサイズのサンプルに対する3D 洞察を得るための最も先進的な方法の1つです。 ブルカーマイクロCTは、他に類を見ない3D X 線顕微鏡を小型サイズのPlug 'n AnalyzeTM SKYSCAN 1275 高速デスクトップマイクロCTを提供することで、この技術を誰にとっても簡単かつアクセスしやすくしました。 ...

検査領域の幅: 280 mm
検査領域の高さ: 110 mm

... VisioPointer®は、最先端のビジョンテクノロジーと複数の検査タイプを使用して、食品包装ラインの検査工程を確実に自動化します。その直感的なインターフェースとインテリジェントなデータ活用により、オペレータは製品の品質を確保し、無駄とダウンタイムを削減し、生産を最適化することができます。プラグアンドプレイのビジョンソリューションとして、VisioPointer®はどんな食品メーカーでも、簡単な導入、操作、メンテナンスで徹底した品質管理を実現します。 ...

... Dymondシリーズは、汎用性に優れたX線検査装置です。4機種をラインアップし、パッケージ製品の検査に必要なほとんどのアプリケーションに対応できます。ベルト幅は最大800 mmで、最大8トレースのマルチレーン用途に最適です。 EHEDGの原則に従った衛生的な設計で、傾斜した表面とカーブしたエッジにより、検査とクリーニングが容易で、時間とコストを大幅に節約できます。 完全性のチェック、製品質量の測定、コンパートメント質量の測定など、製品の完全性と品質を保証するための幅広い標準機能 200 ...

... X線検査システム - Dylight X線検査システムDylightは、包装食品の安全性を極めて高いレベルで保証します。この真の「プラグアンドプレイ」ソリューションは、すべての機能を1台のコンパクトなユニットに統合しています。 非常にコンパクトな設計 プラグアンドプレイ：すべての機能を1台に集約 生産ラインのスペースはわずか1メートル セパレーターとランオフコンテナーを装備 最高レベルの検出感度により、製品の安全性を最大化 直感的で時間のかからない操作 簡単な設置とネットワークへの統合 ...

... シリーズは、7 µmの高解像度で、高歩留まりの検査を実現します。 この堅牢なプラットフォームは、BGA、バレルフィル、コンデンサ、チップ、RFシールド下部品、CSP、DIMMコネクタ、フリップチップ、グランドパッド、ガルウィング、ヒートシンク、Jリード、LEDチップ、LGA、パラディンコネクタ、抵抗器、RNET、SiP、SMTコネクタ、SOIC、SOT、熱パッド、QFN、QFP、THTの高速画像再構成と欠陥検出が可能です。 ...

3D SPI レーザーラインビーム スキャン方式 業界最速の検査速度 Real 3D映像 対象物の色、表面、材質に 影響なく検査 PCB反り自動測定 PCB収縮、膨張を自動補正 Feedback & Feedforward 連携サポート機能で工程最適化 検査項目 高さ、面積、体積、オフセット、ブリッジ、形状異常、PCB反り、PCB収縮など

... OFDD05V1.3のファイバ欠陥検出器は、オンライン除電、オンライン直径検出、オンライン欠陥検出の機能を持つファイバ検出装置です。 特徴 繊維表面の凹み、突起などの欠陥の数や位置を検出します。 一人でできる簡単な操作です。 特殊な構造により、ねじれを低減。 精密サーボモーション制御とPLC制御により、正確な操作と高い自動化を実現しました。 オンライン張力クローズドループフィードバックシステムにより、巻線工程での張力は安定しています。 テンション、速度、長さ、繊維径、バンプ欠陥の数など、巻線プロセス中のさまざまなデータを自動的に記録します。 仕様 適応ファイバー径範囲Ø ...

製薬向けHDIシリーズ（プラスチック連包用） 目薬などのプラスチック連包製品の検査に最適 製品のサイズ・特性に合った適切な電極構成で検査 自動供給システム（オートローダー） 通常、連包製品は成形充填機のコンベア上に機械的に供給され、ピンホー ル検査機に送られます。 HDI 機に自動供給システムを内蔵することにより、機内の検査コンベアに的確なタイミングで製品を送ることができ、装置をインライン化することが可能となります。

薬品向けHDB-II-ASシリーズ（ガラスアンプル・バイアル用） - 高処理量24,000 本/ 時 - 自動感度調整＝ AS 機能による効率的な検査 - 供給バッファコンベア又は直結コンベアでインラインに対応

... HDG-2は点滴バッグの検査に最適なソリューションです。 通常、バッグは柔軟性があり、検査しにくいものですが、HDG-2は柔軟性のある外面に合わせることができます。 バッグ本体の検査に最適なソリューションです。 50mlから最大6,000mlまで対応可能です。 21 CFR Part11対応パッケージはオプションです。 ...

... のオールインワン検査機で、検査能力は最大720,000個/時。 - 困難な製品や重要な品質要件に対応するため、単一バッチまたは全製品の再検査が必要ですか？ - 面倒な手作業による検査で人件費がかさむ？ - 非効率な下流の包装工程で、規格外の製品による頻繁な機械停止が必要ですか？ - 厳しいAQL、顧客からのクレーム、リコールに直面していませんか？ バルク製品を制御された再現可能な方法で自動ローラーコンベアシステムに供給し、個々の錠剤やカプセルを確実に検査します。製品がカメラ検査エリアで回転している ...

... 流動性のある粉体や顆粒を光学的に検査し、コンタミネーションを検出する。 粉体や顆粒は要求の厳しい媒体です。その品質と純度は、人と機械に高い要求を課しています。金属、塗料、プラスチックの粒子、有機物、凝集物、繊維などの異物は、生産工程ではほとんど避けることができません。質的な保護措置は、可能な限り最高の製品品質、ひいては患者の安全性を実現する鍵です。 広く開発されている液体中の異物検査とは対照的に、粉体や顆粒中の異物検査は技術的に複雑です。 当社の全自動検査システム「パウダーセキュア」は、粉粒体 ...

出力電力: 60 W - 150 W
検査領域の幅: 0 mm - 240 mm
検査領域の高さ: 0 mm - 120 mm

SX2054W / SX2554W 完全密閉型でクーラーレス防水・防じん IP66（コンベア内部IP69K準拠）今までにない、革新的耐環境性能 完全防水　X線検査機 完全密閉でクーラーレス。全身IP66 / コンベア内部IP69K準拠。

出力電力: 60 kW - 150 kW
検査領域の幅: 220 mm
検査領域の高さ: 120 mm

... を両立。 新Ｘ線センサー3Hで高感度を実現 新Ｘ線センサー搭載機（SX2353HW）では当社標準機（SX2554W）と比較してさらなる高感度検査を実現しました。検査画像の比較ではより鮮明になっていることが確認できます。 より安定した高感度を実現 新Ｘ線センサー搭載機（SX2353HW）では異物をより強く検出しており、これによって高感度検査を安定的に行うことが可能です。社内テストでは従来機（SX2554W）と比較してワンサイズ小さなテストピースを検出しています。

出力電力: 60 kW - 150 kW
検査領域の幅: 0 mm - 240 mm
検査領域の高さ: 0 mm - 120 mm

... SX4074HW 新X線センサーで高安定相対質量検査を実現。 新Ｘ線センサーで安定した質量検査を実現 個包装品など軽量で処理数の多い商品や、オートチェッカーでは対応できない高速搬送でも、相対質量検査を安定的に行うことが可能です。小袋ドレッシングの例では従来機で見られるばらつきが、大きく抑えられています。 複数項目の同時検査が可能 商品に含まれる「異物」、包装を含まない「相対質量」「形状」の同時検査が可能です。形状検査では割れ・欠け、長さ・幅、面積等を検査することで品質の向上に寄与致します。

検査領域の高さ: 300 mm
搬送能力: 15 kg

... nanoVoxel-2000は、密閉型X線源を使用した高性能イメージングシステムです。X線源はメンテナンスフリーで、試料室は大型試料に対応し、in-situロード装置を拡張でき、対物レンズ結合検出器を搭載することにより、長いワーキングディスタンスでの高解像度イメージングを実現します。 チューブ密閉型X線源を採用し、消耗品が不要でメンテナンスも簡単です。 大型チャンバーによる拡張性 0.5μmの高い空間分解能 スパイラル、オフセット、リミテッドアングルなど多彩なスキャンモード ...

... 部品が非常に大きく背の高い部品の近くに配置された部品実装密度の高い領域などの複雑な検査課題に対応することができます。 当社の新しい3D AOIシステムにより、品質保証を強化し、生産効率を向上させることができます。 新開発の高解像度カメラシステムにより、0402mmや0201mmのSMDチップ、ファインピッチIC、近接配置されたパッドなどの微小部品に対して、シャープな焦点画像を確保し、検査解像度を向上させます。 光学検査の専門家チームが、すべてのソフトウェア開発を社内で行っています。これにより、様々 ...

... Maker-ray社のAIS20Xは、PCB検査に特化して設計された先進的なAOIマシンです。この最先端システムは、最先端のAI技術によって強化されたビジョンシステムを組み込んでおり、自動光学検査の分野に革命をもたらします。AIインテリジェントプログラミングとオンライン/オフライン機能の組み合わせを提供し、当社のAOIマシンは効率的に混合PCBをサポートします。迅速なプログラミング、正確な部品検出、インテリジェントなアルゴリズムにより、正確な分析を保証し、欠品、極性、間違った部品を検出します。 ...

検査領域の幅: 50 mm - 120 mm
検査領域の高さ: 50 mm - 140 mm
搬送能力: 10 kg

... Atonは、人工知能に基づいた革新的なフル3D検査ソリューションであり、自動光学検査システムの概念と標準に革命をもたらし、SPIとリフロー後の生産段階をカバーします。 Atonは、最も複雑で、重く、大きく、高さのある部品であっても、様々なサイズの基板に対応することができ、あらゆる産業にとって完璧なソリューションです。 - 特許取得の真の3D測定光学技術 - X軸とY軸のリニアモーターによる移動搬送システム。 - ...

... 技術の利点を、優れた検査品質と非常に高速な検査速度を組み合わせました。アセンブリの経済的な大量生産のために開発された3D AOIシステムは、コンポーネントとハンダ接合部位の両方を確実に検査します。インダストリー4.0アプリケーションのために、生産工程内でインテリジェントにネットワーク化することができます。 • 頑丈なシステムデザイン • 最適な費用対効果を実現するシステム構成 • ...

... シュリンク包装のケースを通して、非接触、非破壊、100％自動で容器を検査するように設計されています。このシステムは、容器がケースに密封された後、圧力または真空について、金属栓付きガラス瓶または金属缶を検査する音響または近接技術のオプションを提供します。多くのアプリケーションにおいて、Caseシステムは低圧または真空以外の欠陥を検出します。例えば、容器の紛失、蓋の紛失や瓶の破損、酸味の偏り、缶の破損などです。 ケースシステム - ...

... レベルを検査します。このシステムは、充填不足と充填過多の容器を検出するように設定できます。センサーは遠隔の可変高さスタンドに取り付けられ、既存の生産コンベヤに変更を加える必要はありません。Fill_xrセンサーは、オプション検査として既存のTapToneシステムに追加できます。 Fill_xrの操作にはユーザーインターフェースが必要で、T550およびPROシリーズのユーザーインターフェースと互換性があります。 Fill_xrの特徴 - ...

... 、プラスチックおよびガラス容器の適切な充填レベルを検査するように設計されています。このシステムは、充填不足の容器、充填過多の容器、またはその両方を検出するように設定できます。システムは光学技術を使用して赤外線ビームを検出し、水性液体製品の充填レベルを測定します。センサーは遠隔の可変高さスタンドに取り付けられ、既存の生産コンベヤーに変更を加える必要はありません。Fill_irは、どのTapToneユーザーインターフェースとも互換性があり、オプション検査として既存のTapToneシステムに追加することができます ...