Durômetro Rockwell Qness 10 / 60 M
BrinellVickersde bancada

Durômetro Rockwell - Qness 10 / 60 M - QATM - Brinell / Vickers / de bancada
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Características

Tipo
Rockwell, Brinell, Vickers
Montagem
de bancada, de mesa
Outras características
com painel de controle, semiautomático, motorizado, com análise de imagem, com mesa de coordenadas XY, computadorizado, com cabeçote giratório
Norma
ISO 6507
Carga

MÍN: 0 kgf

MÁX: 62,5 kgf

Altura útil

MÍN: 150 mm
(5,9 in)

MÁX: 260 mm
(10,2 in)

Largura útil

170 mm
(6,7 in)

Peso

55 kg
(121,3 lb)

Descrição

Visão geral
Os testadores de microdureza Vickers/Knoop/Brinell/Rockwell da série Qness 10 / 60 combinam ensaio de microdureza e microscopia num equipamento de laboratório. O modelo Qness 10 / 60 M oferece operação semi-automatizada, posicionamento de eixo Z de alta precisão e câmara colorida integrada para resultados reprodutíveis. Os sistemas QATM integram-se com a plataforma IoT da Verder Scientific para monitorização remota, alertas e backups automáticos.

Vantagens do produto
  • Operação semi-automatizada com eixo Z controlado e automatizado
  • Ampla faixa de forças de ensaio (0,25 g – 62,5 kgf conforme o modelo)
  • Pacote pronto para teste incluindo penetrador Vickers certificado ASTM+DAkkS e objetivas 5x/50x
  • Torre de teste dinâmica de 8 posições para até 3 módulos de dureza e 7 objetivas
  • Software Qpix Control2 M com módulos Qpix INSPECT
  • Deslizante cruzado XY digital com feedback de posição e opções de deslizante
  • Tecnologia CAS anti-colisão e conceito de duplo eixo Z para velocidade e posicionamento de alta resolução


Sistema ótico inovador
O sistema de lentes de fabrico próprio fornece imagens de alto contraste e grande nitidez para medidas de dureza. Iluminação de Koehler com LED branco e diafragma motorizado garantem contraste ideal em grandes ampliações. O conceito ótico e as objetivas cumprem os requisitos DIN EN ISO 6507-1/2:2018 para definição do sistema de ensaio.

Microscopia e análise com Qpix INSPECT
O Qpix INSPECT oferece ferramentas avançadas de análise de imagem e microscopia para caracterização de materiais e controlo de qualidade:
  • Análise de fase com dimensionamento automático de objetos e resultados em frações de superfície (tabelas/diagramas)
  • Determinação do tamanho de partículas por métodos de secção linear ou circular (DIN EN ISO 643, ASTM E-112)
  • Medida de espessura de camadas semi-automática com saída estatística (DIN EN ISO 1463)
  • Medida de cordões de solda com modelos normalizados e avaliação automática conforme/não conforme (DIN EN ISO 5817)
  • Reconhecimento de impressões em superfícies desafiantes como atacadas ou rectificadas


Operação e automação
Projetado para facilitar a manipulação de amostras e ensaios em série, o equipamento inclui iluminação LED do espaço de ensaio, indicador de estado iluminado, suportes de amostra versáteis (embebidos e não embebidos), prismas e sargentos opcionais, integração de paquímetro digital, suporte para leitores de código de barras/QR/DMC, login NFC e gestão de lotes/modelos via Qpix Control2 M. Conectividade Qconnect e integrações Industry 4.0 disponíveis.

Multimédia e AR 3D
A página do produto pode incluir um vídeo e um modelo 3D AR integrado para visualizar o equipamento em cenários reais, útil para planeamento de layout e demonstrações.

Especificações técnicas
  • Faixa de forças: Qness 10 M: 20 gf – 10 kgf (0,196 – 98,07 N); Qness 60 M: 0,25 gf – 62,5 kgf (0,00245 – 612,92 N)
  • Métodos de ensaio: Vickers, Knoop, Brinell, Rockwell (opcional)
  • Sequência de ensaio: totalmente automatizada / aplicação eletrónica de força
  • Eixo Z: dinâmico automatizado (tecnologia CAS), conceito de duplo eixo Z
  • Curso do eixo Z: 150 mm padrão, opção 260 mm
  • Profundidade útil: 170 mm
  • Posições de ferramenta: torre motorizada 8 posições; até 3 módulos de dureza, até 7 objetivas
  • Câmara: 5 MP CMOS color, USB 3.0
  • Sistema ótico: microscópio vertical com iluminação de Koehler; diafragma motorizado
  • Objetivas: XLED 2x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x; opções acromáticas e semi-apocromáticas
  • Campo de visão: 0,074 x 0,055 mm (100x) a 2,80 x 2,10 mm (XLED 2)
  • Mesa: Ø100 mm; opção mesa cruzada 135 x 135 mm; cursos padrão X25 x Y25 mm
  • Elementos de controlo: paragem de emergência, botão de início, joystick eixo Z
  • Software: Qpix Control2 M incluído; módulos Qpix INSPECT disponíveis
  • Peso máximo da peça: 50 kg; peso do equipamento aprox. 55 kg
  • Equipamento incluído: penetrador Vickers ASTM+DAkkS, objetivas 5x e 50x
  • Interfaces: 1 x USB 3.0; Alimentação: 100–240 V, 45–65 Hz

VÍDEO

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.
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