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Laboratory Metrology and Test Equipment_Laboratory test system

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実験用テスト システム
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インピーダンステスト システム
インピーダンステスト システム FTI-1000 Wafer HV
容量係数 研究開発用 エレクトロニクス産業用
最大100MS/sデジタイザ
最大100MS/sデジタイザ Viper
14ビット 高速 任意波形ジェネレーター付

Burn in

温度試験機
温度試験機
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熟成テスト システム
熟成テスト システム Hatina WLBI
熱 パフォーマンス 加速エージング

Known Good Die

出力試験機
出力試験機 M2 Turret Edition
ブロードバンド半導体 航空用 研究開発用
半導体用テストプラットフォーム
半導体用テストプラットフォーム M2 Flexible Edition

Wafer Testers

ウェーハ試験機
ウェーハ試験機 M2 Wafer Edition
高電圧 エレクトロニクス産業用 凹凸
自動試験装置
自動試験装置 VIP Ultra
自動 半導体 エレクトロニクス産業用
自動試験装置
自動試験装置 HATINA GP
電子部品 エレクトロニクス産業用 デジタル

Handler

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ピックアンドプレースハンドラ Celsius EVO
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