導入TR7600F3D SIIは、5 µmまでの画像解像度に対応するインライン自動X線検査(AXI)システムです。LL SIIバリアントでは最大1000 x 660 mmまでの大型基板の検査が可能で、生産サイクルを維持しながら不良見逃しや誤検出を低減します。
主な特長- 高精度イメージング:5 µm — 微細欠陥の検出に対応
- 高スループット:次世代機構により最大20 FOV/s
- インライン微調整:生産停止なしで複数サンプルの調整が可能
- 工場連携:MES統合対応のSmart Factory対応、SMEMA互換
イメージングシステム- カメラ:フラットパネル検出器
- X線源電圧:60–130 kV
- 画像解像度範囲:5 µm – 30 µm
- 検査方式:2D、2.5D、3Dスライス;Planar CTはオプション
モーションテーブル&制御- X/Y/Z軸:高精度ボールねじ+ACサーボコントローラ
- オプション:高精度デュアル駆動ボールねじ(TR7600F3D LL SII)
- 安定した高速走査を実現する機械設計
基板搬送- 最大PCBサイズ:TR7600F3D SII — 900 x 460 mm;TR7600F3D LL SII — 1000 x 660 mm
- PCB厚さ:SII 0.6–7 mm;LL SII 0.4–7 mm
- 最大PCB重量:12 kg
- クリアランス(上下):上側 @20/25/30 µm = 50 mm;@15 µm = 45 mm;@10 µm = 25 mm;@5 µm = 5 mm。下側 @30 µm = 55 mm;@5/10/15/20/25 µm = 70 mm
- エッジクリアランス:3 mm または 5 mm
- コンベア高さ:880–920 mm(オプション 940–965 mm)
- SMEMA対応
検査機能検出能力:
- Missing
- Misalignment
- Tombstone
- Billboard
- タングステン(タンタル)極性
- Rotation
- Floating
検出欠陥:
- はんだ不足 / 過剰
- Bridging
- Open
- はんだボール
- はんだ不適合(Non-wetting)
- Void(空洞)
- リフトしたリード
寸法 & 電源- 外形寸法(WxDxH):SII 1470 x 1971 x 1974 mm;LL SII 1730 x 2300 x 1975 mm(シグナルタワー高さ502 mmは除く)
- 重量:SII 3850 kg;LL SII 4850 kg
- 電源:200–240 VAC 単相、50/60 Hz、4 kVA
技術仕様- 型式:TR7600F3D SII(オプション:TR7600F3D LL SII)
- ブランド:Test Research, Inc. (TRI)
- カメラ:フラットパネル検出器
- X線ソース電圧:60–130 kV
- 画像解像度:5 µm – 30 µm
- 検査方式:2D、2.5D、3Dスライス;Planar CT(オプション)
- 最大PCBサイズ:900 x 460 mm(SII) / 1000 x 660 mm(LL SII)
- PCB厚さ:0.6–7 mm(SII) / 0.4–7 mm(LL SII)
- 最大PCB重量:12 kg
- モーション制御:高精度ボールねじ+ACサーボコントローラ(オプションでデュアル駆動ボールねじ)
- スループット:最大20 FOV/s
- 電源:200–240 VAC、単相、50/60 Hz、4 kVA