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Sistema de inspeção óptico Galaxy 5Cχ
com câmeraautomáticopara detecção de defeitos

Sistema de inspeção óptico - Galaxy 5Cχ - CIMS - com câmera / automático / para detecção de defeitos
Sistema de inspeção óptico - Galaxy 5Cχ - CIMS - com câmera / automático / para detecção de defeitos
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Características

Tecnologia
com câmera, óptico
Modo de funcionamento
automático
Tipo
para controle de qualidade, para detecção de defeitos
Aplicações
para a indústria eletrônica, para PCI
Configuração
em linha
Outras características
de alta resolução, sem contato

Descrição

Descrição
Inspeção óptica automatizada (AOI) para substratos de CI: o Galaxy 5Cχ suporta tecnologia linha/espaço mínima até 5 µm. Projetado para fabricação em alto volume, combina imagens coloridas de alta resolução com óptica avançada e motores de deteção para identificar defeitos de processo e montagem em substratos avançados.

Capacidades principais
  • Inspeção até 5 µm linha/espaço para tecnologias avançadas de substratos de CI
  • Câmara a cores de alta resolução para melhor identificação de características
  • Tecnologia ótica Prisma™ Gen II para iluminação flexível e contraste máximo
  • Motor de deteção Spark™ 3.0 multiplataforma com algoritmos personalizáveis
  • Equilíbrio otimizado entre resolução e velocidade de digitalização para alto rendimento


Destaques
  • Motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Plataforma mecânica compacta para integração em fábrica
  • Hardware de 6ª geração para desempenho e fiabilidade melhorados
  • Bloco de iluminação melhorado com opção X-WAVE™ multi‑onda
  • Configuração rápida e intuitiva de trabalhos para reduzir tempos de troca
  • Compatível com automação AMHS frontal ou manuseio por robô


Opções
  • Fi™ — opção de inspeção final para placas acabadas
  • +2DM™ metrologia — medição das dimensões do painel
  • +2CD™ metrologia — medição 2D de elementos de circuito
  • +3DH™ metrologia — medição 3D da altura de elementos de circuito
  • +3DP™ metrologia — perfilagem 3D de elementos de circuito
  • LDI™ — opção de inspeção de perfuração a laser
  • CDB™ / CDBIC™ — classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
  • VVS™ — sistema de verificação virtual
  • X-WAVE™ — opção de iluminação multi‑onda


Especificações técnicas
  • Aplicação: Inspeção óptica automatizada (AOI) para substratos de CI
  • Capacidade mínima linha/espaço: 5 µm
  • Câmara: câmara a cores de alta resolução
  • Tecnologia ótica: Prisma™ Gen II (iluminação flexível, alto contraste)
  • Motor de deteção: Spark™ 3.0 (multiplataforma, algoritmos personalizáveis)
  • Sistema de movimento: motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Projeto mecânico: plataforma compacta adequada para integração
  • Geração de hardware: 6ª geração
  • Iluminação: bloco de iluminação melhorado; X-WAVE™ opcional
  • Opções de metrologia: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Opções adicionais: Fi™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™
  • Compatibilidade de automação: compatível com AMHS frontal ou manuseio por robô

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.