Sistema de inspeção óptico SVS 10μ
por imagens de vídeocom câmeraautomático

Sistema de inspeção óptico - SVS 10μ - CIMS - por imagens de vídeo / com câmera / automático
Sistema de inspeção óptico - SVS 10μ - CIMS - por imagens de vídeo / com câmera / automático
Guardar nos favoritos
Comparar

Características

Tecnologia
com câmera, óptico, por imagens de vídeo
Modo de funcionamento
automático
Tipo
para detecção de defeitos, visual, vídeo, de superfícies refletivas
Aplicações
para a indústria eletrônica
Outras características
de alta resolução, controlado por computador, sem contato

Descrição

Descrição
Estação de verificação AVI para tiras de substratos IC escaneadas com sistemas AVI. A SVS 10μ, estação de verificação CIMS alimentada por Sprint™, foi projetada para verificação de geometrias de linha/finger até 10 µm (otimizada para 10–18 µm).
O sistema utiliza um canal de iluminação refletivo/coaxial combinado com três canais difusivos para maximizar o contraste em superfícies de ouro e máscara de solda. O design ótico permite marcação precisa de defeitos e retirada de unidades defeituosas. Mecânica robusta e hardware dedicado garantem alto rendimento e estabilidade operacional.
A SVS 10μ dispõe de interface ergonómica e fácil de usar que minimiza o tempo de formação. Integra-se com CDB™ e CDBIC™ para gestão de dados de defeitos e unidades descartadas, e é compatível com todos os sistemas AVI da CIMS e máquinas de marcação a laser de terceiros.

Destaques
  • Configurações flexíveis de iluminação de vídeo para contraste otimizado
  • Calibração automática do material
  • Mesa de vácuo estacionária para manuseio estável
  • Design ergonómico para eficiência do operador
  • Movimento otimizado defeito-a-defeito para reduzir o tempo de ciclo
  • Imagem clara dos defeitos com iluminação de vídeo ajustável

Opções
  • Leitor de código de barras
  • Posição do monitor ajustável
  • CDB™/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos

Especificações técnicas
  • Largura mínima de linha/finger detectável: 10 µm (otimizada para 10–18 µm)
  • Aplicação: verificação de tiras de substratos IC escaneadas com sistemas AVI
  • Iluminação: canal de luz refletiva/coaxial mais três canais difusivos
  • Óptica: projetada para permitir marcação de defeitos e retirada de unidades defeituosas
  • Mecânica & hardware: construção robusta para alto rendimento e eficiência
  • Interface & ergonomia: interface amigável, formação mínima requerida
  • Compatibilidade: totalmente compatível com CDB™ e CDBIC™
  • Interoperabilidade: compatível com todos os sistemas AVI CIMS e máquinas de marcação a laser de terceiros

Outros produtos CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.