Sistema de inspeção óptico Galaxy 15μ

automáticode mediçãopara detecção de defeitos

Descrição
AOI para PCBs HDI e de traço fino com capacidade mínima linha/espaço até 15 µm. Galaxy 15μ, sistema AOI da CIMS, foi concebido para suportar a fabricação em grande volume de tecnologias HDI e PCBs de traço fino avançadas. É capaz de inspecionar recursos até 15 µm linha/espaço mantendo rendimento estável.

Destaques

• Motores lineares para movimento suave e silencioso
• Plataforma mecânica compacta
• Firmware de processamento de imagem de alto desempenho
• Bloco de iluminação Microlight Gen II™ melhorado para cobertura uniforme
• Configuração rápida e intuitiva de trabalhos
• Compatível com automação front AMHS ou robô

Opções

• Fi™ – opção de inspeção final para placas finalizadas
• +2DM™ metrologia – medição das dimensões do painel
• +2CD™ metrologia – medição 2D de elementos de circuito
• +3DH™ metrologia – medições 3D da altura de elementos de circuito
• +3DP™ metrologia – perfilamento 3D de elementos de circuito
• LDI™ – opção de inspeção de perfurações a laser
• CDB/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
• VVS™ – sistema de verificação virtual

Especificações técnicas

• Aplicação: Inspeção óptica automatizada (AOI) para PCBs HDI e de traço fino
• Capacidade mínima linha/espaço: 15 µm
• Tecnologia óptica: iluminação Microlight Gen II™
• Mecanismo de deteção: Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
• Sistema de movimento: motores lineares para movimento suave e silencioso
• Mecânica: plataforma mecânica compacta
• Processamento de imagem: firmware de processamento de imagem de alto desempenho
• Iluminação: bloco de iluminação melhorado projetado para requisitos rigorosos de deteção
• Configuração: configuração de trabalhos rápida e intuitiva
• Compatibilidade de automação: compatível com automação front AMHS ou robô
• Opções disponíveis: Fi™, +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB/CDBIC™, VVS™