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Sistema de inspeção digital AIVR 4μ
por imagens de vídeocom câmeraIA

Sistema de inspeção digital - AIVR 4μ - CIMS - por imagens de vídeo / com câmera / IA
Sistema de inspeção digital - AIVR 4μ - CIMS - por imagens de vídeo / com câmera / IA
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Características

Tecnologia
com câmera, digital, IA, por imagens de vídeo
Modo de funcionamento
manual
Tipo
para detecção de defeitos, vídeo
Aplicações
para produção, para a indústria eletrônica, para PCI
Configuração
em linha
Outras características
de alta resolução, controlado por computador, sem contato

Descrição

Descrição
AIVR é uma estação de verificação CIMS com IA que combina verificação virtual e física numa única estação de trabalho. AIVR 4μ foi projetada para produção em grande volume de substratos IC e otimizada para verificação de tecnologia linha/espaço de 4–15 µm. Em modo AIVR, o operador revê imagens de defeitos capturadas pelo AOI e processadas com algoritmos de melhoria de imagem baseados em IA, permitindo filtrar rapidamente falsos positivos óbvios. O uso do AIVR aumenta significativamente a eficiência e a velocidade da verificação, integrando os resultados na base de dados. Um ecrã tátil opcional permite classificar defeitos e fornecer feedback QA em tempo real. AIVR 4μ é compatível com todos os AOI CIMS.

Destaques
  • Combina verificação de imagens pós-processadas do AOI com modo de vídeo ao vivo
  • Até 90% de aumento na eficiência de verificação vs. modo tradicional
  • Exibe imagens de defeitos a cores de alta resolução melhoradas por IA, capturadas diretamente do AOI
  • Zoom variável e calibração automática
  • Mesa de vácuo fixa
  • Design ergonómico
  • Imagem nítida do defeito e luz de vídeo ajustável

Opções
  • Auto-marker para marcação de defeitos
  • Leitor de código de barras
  • Braço de monitor ajustável
  • CDB™/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
  • SharpLight™ – imagem de vídeo melhorada

Especificações técnicas
  • Família / série do produto: AIVR
  • Fabricante / Marca: CIMS
  • Aplicação alvo: estação de verificação AOI para substratos IC
  • Verificação de linha/espaço suportada: otimizada para 4–15 µm
  • Modos de verificação: virtual (imagens AOI pós-processadas) e vídeo ao vivo
  • Melhoria de imagem: algoritmos baseados em IA, imagens de defeitos a cores de alta resolução melhoradas por IA
  • Aumento de eficiência: até 90% vs. modo tradicional
  • Interação do utilizador: fluxo de revisão pelo operador, ecrã tátil opcional para classificação de defeitos e feedback QA
  • Integração: resultados integrados com a base de dados
  • Óptica / mecânica: zoom variável, calibração automática, luz de vídeo ajustável
  • Características da estação: mesa de vácuo fixa, design ergonómico
  • Módulos opcionais disponíveis: auto-marker, leitor de código de barras, braço de monitor ajustável, CDB™/CDBIC™, SharpLight™
  • Compatibilidade: compatível com todos os AOI CIMS

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.