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Sistema de inspeção óptico Galaxy 4Cχ
com câmeraautomáticode medição

Sistema de inspeção óptico - Galaxy 4Cχ - CIMS - com câmera / automático / de medição
Sistema de inspeção óptico - Galaxy 4Cχ - CIMS - com câmera / automático / de medição
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Características

Tecnologia
com câmera, óptico
Modo de funcionamento
automático
Tipo
para detecção de defeitos, de medição
Aplicações
para produção, para a indústria eletrônica
Aplicações previstas
para wafers
Configuração
em linha
Outras características
de alta resolução, sem contato

Descrição

Descrição
  • Inspeção Óptica Automatizada (AOI) para substratos IC com resolução mínima linha/espaço até 4 µm.
  • Galaxy 4Cχ é a geração mais recente de sistemas AOI da CIMS, equipado com câmara colorida e óptica Prisma™ Gen II para aquisição de imagem de alto contraste em velocidade de produção.
  • Projetado para suportar produção em grande volume de substratos IC de nova geração, combinando imagem de alta resolução e algoritmos de deteção configuráveis impulsionados por Spark™ 3.0.
  • Opções modulares e pacotes de metrologia permitem fluxos de trabalho de medição e inspeção em linha para painéis e elementos de circuito.


Destaques
  • Motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Plataforma mecânica compacta para integração em fábrica
  • Arquitetura de hardware de 6ª geração
  • Bloco de iluminação aprimorado com opção X-WAVE™ multi-onda
  • Configuração rápida e intuitiva para novos trabalhos
  • Compatível com automação front AMHS ou manuseio por robô


Opções
  • Fi™ — opção de inspeção final para placas acabadas
  • +2DM™ metrologia — medição das dimensões do painel
  • +2CD™ metrologia — medição 2D de elementos de circuito
  • +3DH™ metrologia — medição 3D da altura dos elementos
  • +3DP™ metrologia — perfilagem 3D dos elementos de circuito
  • LDI™ — opção de inspeção de perfuração a laser
  • CDB™/CDBIC™ — classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
  • VVS™ — sistema de verificação virtual
  • X-WAVE™ — iluminação multi-onda


Especificações técnicas
  • Aplicação: Inspeção Óptica Automatizada (AOI) para substratos IC
  • Resolução mínima linha/espaço: 4 µm
  • Câmara: Câmara colorida
  • Tecnologia óptica: Prisma™ Gen II
  • Motor de deteção: Spark™ 3.0 (cross-platform)
  • Sistema de movimento: Motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Mecânica: Plataforma compacta para layouts de fábrica densos
  • Geração de hardware: Hardware de 6ª geração
  • Iluminação: Bloco de iluminação aprimorado (X-WAVE™ opcional)
  • Compatibilidade de automação: AMHS frontal ou robô
  • Opções de metrologia: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Outras opções: Fi™ inspeção final, LDI™ inspeção de furação a laser, CDB™/CDBIC™ classificação de defeitos, VVS™ verificação virtual

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.