DescriçãoInspeção óptica automatizada (AOI) para circuitos flexíveis (FPC) em processos roll-to-roll. Galaxy R2R 25 µm é um sistema AOI projetado para produção roll-to-roll de placas flex e rigid-flex, capaz de detectar linhas/espacos até 25 µm. A iluminação Microlight™ Gen II fornece cobertura luminosa uniforme para atender a requisitos rigorosos de detecção. Com aquisição de imagem de alta resolução e o motor de detecção Spark™ 3.0, o sistema realiza detecção precisa de defeitos com baixa taxa de falsos positivos. Compatível com integração frontal AMHS ou robô para produção inline.
Destaques- Motores lineares para movimento suave e silencioso
- Plataforma mecânica compacta
- Firmware de processamento de imagem de alto desempenho
- Bloco de iluminação melhorado (Microlight™ Gen II)
- Configuração rápida e intuitiva de novos jobs
- Compatível com automação frontal AMHS ou robô
Opções- +2DM™ metrologia – medição das dimensões do painel
- +2CD™ metrologia – medição 2D de elementos de circuito
- LDI™ – opção de inspeção de perfuração a laser
- CDB™/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
- VVS™ – sistema de verificação virtual
Especificações técnicas- Tipo de inspeção: Inspeção óptica automatizada (AOI) para FPC em processos roll-to-roll
- Detecção mínima linha/espaco: 25 µm
- Substratos suportados: placas flex e rigid-flex
- Tecnologia óptica: iluminação Microlight™ Gen II
- Motor de detecção: Spark™ 3.0
- Aquisição de imagem: hardware de aquisição de imagem de alta resolução
- Software: algoritmos de detecção avançados com baixa taxa de falsos positivos
- Sistema de movimento: motores lineares para movimento suave e silencioso
- Mecânica: plataforma compacta
- Compatibilidade: compatível com automação frontal AMHS ou robô
- Metrologia opcional: +2DM™ (dimensões do painel), +2CD™ (elementos de circuito 2D)
- Módulos de inspeção opcionais: LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™