Sistema de inspeção óptico Galaxy 25μ
automáticode mediçãopara detecção de defeitos

Sistema de inspeção óptico - Galaxy 25μ - CIMS - automático / de medição / para detecção de defeitos
Sistema de inspeção óptico - Galaxy 25μ - CIMS - automático / de medição / para detecção de defeitos
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Características

Tecnologia
óptico
Modo de funcionamento
automático
Tipo
para controle de qualidade, para detecção de defeitos, de medição
Aplicações
para a indústria eletrônica, para PCI
Configuração
em linha
Outras características
de alta resolução, controlado por computador, sem contato

Descrição

Descrição
AOI para HDI e PCB multicamadas com linha/espaço mínimo até 25 µm. Galaxy 25μ, sistema AOI da CIMS, foi projetado para suportar a fabricação em grande volume de HDI e PCB multicamadas de alta gama. É capaz de inspecionar tecnologias com largura linha/espaço até 25 µm.
A tecnologia ótica de ponta Microlight™ Gen II fornece cobertura de iluminação ideal para atender aos requisitos de detecção mais rigorosos. O desempenho otimizado é alcançado combinando qualidade de imagem superior com algoritmos de detecção personalizáveis.
Equipado com aquisição de imagem de última geração e capacidades avançadas de software, a família Galaxy é reconhecida pela detecção excepcional com a menor taxa possível de falsos positivos. Galaxy 25μ é alimentado por Spark™ 3.0 – o motor de detecção multiplataforma de última geração da CIMS.

Destaques
  • Motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Plataforma mecânica compacta
  • Firmware de processamento de imagem de alto desempenho
  • Bloco de iluminação aprimorado (Microlight™ Gen II)
  • Configuração rápida e intuitiva para novos trabalhos
  • Compatível com automação frontal AMHS ou integração por robô

Opções
  • Fi™ – opção de inspeção final para placas prontas
  • +2DM™ metrologia – medição das dimensões do painel
  • +2CD™ metrologia – medição 2D de elementos do circuito
  • LDI™ – opção de inspeção de perfuração a laser
  • CDB™/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
  • VVS™ – sistema de verificação virtual

Características / especificações técnicas
  • Aplicação: Automated Optical Inspection (AOI) para HDI e PCB multicamadas
  • Linha/espaço mínimo detectável: até 25 µm
  • Tecnologia ótica: Microlight™ Gen II, iluminação aprimorada para cobertura ideal
  • Motor de detecção: Spark™ 3.0 motor de detecção multiplataforma
  • Aquisição de imagem: hardware de aquisição de imagem de última geração e capacidades de software avançadas
  • Desempenho: detecção excepcional com baixa taxa de falsos positivos através de qualidade de imagem superior e algoritmos de detecção personalizáveis
  • Sistema de movimento: motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Desenho mecânico: plataforma mecânica compacta adequada para fabricação em grande volume
  • Software/firmware: firmware de processamento de imagem de alto desempenho; configuração rápida e intuitiva de trabalhos
  • Compatibilidade de automação: compatível com automação frontal AMHS ou integração por robô
  • Opções de inspeção/metrologia disponíveis: inspeção final (Fi™), metrologia 2D de painel e elementos de circuito (+2DM™, +2CD™), inspeção de perfuração a laser (LDI™), classificação e mapeamento de defeitos (CDB™/CDBIC™), verificação virtual (VVS™)

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PCB Inspection and Metrology

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.