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Sistema de inspeção óptico Galaxy LV series
automáticorobóticode medição

Sistema de inspeção óptico - Galaxy LV series - CIMS - automático / robótico / de medição
Sistema de inspeção óptico - Galaxy LV series - CIMS - automático / robótico / de medição
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Características

Tecnologia
óptico
Modo de funcionamento
automático, robótico
Tipo
para detecção de defeitos, para detecção de buracos, de medição
Aplicações
para a indústria eletrônica, para PCI
Configuração
em linha
Outras características
de alta resolução, controlado por computador, sem contato

Descrição

DescriçãoSistemas AOI para inspeção de vias a laser com diâmetro mínimo detectável até 10 µm. Galaxy LV series representa a família de modelos projetada para suportar a inspeção de vias laser cegas na fabricação em grande volume de substratos HDI ou IC avançados. Os sistemas desta família incluem os seguintes modelos:
  • Galaxy LV 10x para inspeção de vias até 10 µm de diâmetro
  • Galaxy LV 15x para inspeção de vias até 15 µm de diâmetro
  • Galaxy LV 20x para inspeção de vias até 20 µm de diâmetro
  • Galaxy LV 25x para inspeção de vias até 25 µm de diâmetro
A tecnologia ótica de última geração é especificamente desenhada e calibrada para alcançar aquisição de imagem ótima de furos a laser antes e depois da eletrodeposição, assim como para aplicações com máscara conformal. O desempenho otimizado é obtido combinando alta qualidade de imagem com algoritmos de detecção personalizáveis. Equipados com aquisição de imagem avançada e capacidades de software, a família Galaxy é reconhecida por sua detecção excepcional com a menor taxa possível de falsos positivos. Os sistemas Galaxy LV series são movidos por Spark™ 3.0 – um inovador motor de detecção multiplataforma.

Destaques
  • Motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Plataforma mecânica compacta
  • Firmware de processamento de imagem de alto desempenho
  • Bloco de iluminação aprimorado
  • Configuração rápida e intuitiva para novos trabalhos
  • Compatível com automação frontal AMHS ou robô
  • Saída estatística poderosa


Opções
  • +2DM™ metrology – medição das dimensões do painel
  • +2CD™ metrology – medição 2D dos elementos de circuito
  • +3DP™ metrology – perfilamento 3D dos elementos de circuito
  • Pacote estatístico para cálculo de deslocamento de furo e violações de diâmetro
  • CDB™/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento virtual de defeitos
  • VVS™ – sistema de verificação virtual


Características / especificações técnicas
  • Família de produtos: Galaxy LV series
  • Aplicação alvo: Inspeção de vias laser cegas para substratos HDI e IC em fabricação em grande volume
  • Modelos disponíveis e diâmetros mínimos inspecionáveis: Galaxy LV 10x (10 µm), Galaxy LV 15x (15 µm), Galaxy LV 20x (20 µm), Galaxy LV 25x (25 µm)
  • Tecnologia ótica calibrada para aquisição de imagem antes e depois da eletrodeposição e para aplicações com máscara conformal
  • Motor de detecção: Spark™ 3.0 (cross-platform)
  • Movimento: Motores lineares para movimento suave e silencioso
  • Mecânica: Plataforma mecânica compacta
  • Imageamento: Bloco de iluminação aprimorado e firmware de processamento de imagem de alto desempenho
  • Automação: Compatível com automação frontal AMHS ou robô
  • Opções de software: +2DM™, +2CD™, +3DP™, CDB™/CDBIC™, VVS™
  • Dados: Saída estatística poderosa e pacotes para análise de deslocamento de furo e violações de diâmetro

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.