DescriçãoGalaxy PVH é um sistema AOI para inspeção de vias obturadas (PVH) com diâmetro mínimo inspecionável de 75 µm. Inspeciona furos passantes preenchidos com resina e vias preenchidas por laser no mesmo painel de PCB, suportando produção em grande volume de MLB e PCB HDI. A opção PVH estende as capacidades AOI tanto para furos mecânicos quanto para furos a laser, detectando de forma confiável defeitos dentro dos furos preenchidos.
Destaques- Excelente detecção de defeitos em furos preenchidos com resina
- Motores lineares para movimento suave e silencioso
- Construído sobre a plataforma compacta Galaxy
- Firmware de processamento de imagem de alto desempenho
- Processadores potentes para lidar com grandes volumes de dados
- Configuração de trabalhos rápida e intuitiva
- Saída estatística abrangente para controle de processo
Opções- Pacote estatístico para análise de deslocamento de furo e violações de diâmetro
- CDB™/CDBIC™ – classificação de defeitos e mapeamento de defeitos virtuais
- VVS™ – sistema de verificação virtual
Especificações técnicas- Tipo de produto: sistema AOI para vias obturadas (PVH)
- Diâmetro mínimo inspecionável: 75 µm
- Inspeciona tanto furos passantes preenchidos com resina quanto vias preenchidas por laser no mesmo painel
- Mercados/aplicações alvo: fabricação em grande volume de MLB e PCB HDI
- Tecnologia óptica: Microlight™ para cobertura de luz otimizada
- Detecção: algoritmos de detecção personalizáveis para detecção rigorosa de defeitos
- Mecânica: motores lineares para movimento suave e silencioso
- Plataforma: construído sobre a plataforma compacta Galaxy
- Processamento: firmware de processamento de imagem de alto desempenho e processadores potentes para lidar com grandes volumes de dados
- Configuração: setup de trabalhos rápido e intuitivo
- Dados & controle: pacotes estatísticos poderosos que fornecem controle de processo em tempo real e calibração de ferramentas de perfuração a laser
- Opções disponíveis: pacote estatístico para deslocamento/violações de diâmetro, classificação CDB™/CDBIC™ e mapeamento de defeitos virtuais, verificação virtual VVS™